光散射法在顆粒測(cè)量技術(shù)中的應(yīng)用.pdf_第1頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

1、隨著社會(huì)文明的進(jìn)步、科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，出現(xiàn)了越來(lái)越多與細(xì)微顆粒密切相關(guān)，并且影響著工業(yè)發(fā)展以及海洋探測(cè)，環(huán)境治理和科學(xué)研究等亟待解決的問(wèn)題，顆粒的粒徑及分布和濃度是目前顆粒測(cè)量的主要內(nèi)容。在眾多測(cè)量方法中，光全散射法由于測(cè)量原理簡(jiǎn)單、測(cè)量方便和成本低等優(yōu)點(diǎn)被廣泛使用。
　　 本文介紹了目前顆粒測(cè)量技術(shù)的發(fā)展?fàn)顩r，分析了光散射的產(chǎn)生機(jī)理和基本原理--Mie理論，并進(jìn)行了數(shù)值模擬。詳細(xì)描述了蒙特卡洛方法模擬偏振光的散射過(guò)程，介紹了

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