系統(tǒng)貯存可靠性中參數(shù)漂移過(guò)程的研究.pdf

1、為了滿足市場(chǎng)激烈的競(jìng)爭(zhēng)，使產(chǎn)品盡快進(jìn)入市場(chǎng)，以及為了滿足顧客的高期望，產(chǎn)品必須做得更穩(wěn)健，更可靠，因此在短時(shí)間內(nèi)產(chǎn)品幾乎觀察不到失效。在這種情況下，利用高應(yīng)力水平下的退化數(shù)據(jù)來(lái)對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評(píng)估就變得很有必要。這種評(píng)估可通過(guò)加速退化測(cè)試來(lái)完成。這些試驗(yàn)包括取代測(cè)試產(chǎn)品壽命而只測(cè)試產(chǎn)品性能隨時(shí)間退化的過(guò)應(yīng)力測(cè)試。隨著工程技術(shù)和科學(xué)知識(shí)的發(fā)展，許多現(xiàn)代產(chǎn)品比過(guò)去有更長(zhǎng)的壽命和更高的可靠性。這樣，壽命測(cè)量和退化測(cè)量要比過(guò)去花費(fèi)更多的時(shí)間和

2、金錢。因此，在正常貯存條件下觀測(cè)失效時(shí)間就變得非常困難。在某些情況下甚至變得不可行。 本研究從實(shí)際工程背景和問(wèn)題出發(fā)，基于具有貯存初始失效的系統(tǒng)貯存可靠性模型，R(t)=P(T≥t｜T>0)P(T>0)=R0Rs(t)，t≥0，應(yīng)用加速退化試驗(yàn)，加快參數(shù)漂移過(guò)程，推導(dǎo)系統(tǒng)失效規(guī)律，建立系統(tǒng)貯存可靠性理論模型，對(duì)系統(tǒng)的貯存可靠性及剩余壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)。本文在該領(lǐng)域的研究中，首次將伊藤過(guò)程引入到研究參數(shù)漂移過(guò)程，并將漂移方程X(t)=X