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文檔簡介
1、隨著科學(xué)技術(shù)的高速發(fā)展和進步,混合集成電路(Hybrid Integrated Circuit,HIC)產(chǎn)業(yè)也取得了極大的發(fā)展,混合集成電路的測試是集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中比較重要的環(huán)節(jié),它是保證電路的設(shè)計達到預(yù)期指標(biāo)的重要一環(huán)?;旌霞呻娐窚y試技術(shù)是IC產(chǎn)業(yè)中一門支撐技術(shù),而混合集成電路的自動測試設(shè)備(Automatic Test Equipment,ATE)也是在進行IC驗證測試必不可少的裝備。因此,開展混合集成電路的測試技術(shù)研究和自動測試
2、設(shè)備的研制是一項重要的工作,爭取盡快縮短和國外在該產(chǎn)業(yè)中的差距。
本課題研制的混合集成電路測試設(shè)備能夠基本上滿足部分混合集成電路測試需求,并且具備操作簡單、價格低廉、實用性很強等優(yōu)點,可以大大的提高IC生產(chǎn)的效率,降低生產(chǎn)成本。
本論文第一章首先介紹了混合集成電路自動測試系統(tǒng)的中外發(fā)展的狀況,同時分析了混合集成電路測試面臨的技術(shù)難題。第二章介紹了混合集成電路測試板設(shè)計所涉及的基礎(chǔ)知識,包括混合集成電路測試原理,詳細說
3、明混合集成電路的測試方法,直接數(shù)字合成技術(shù)應(yīng)用和測試向量的生成技術(shù),
第三章和第四章是本論文的重點章節(jié),詳細講解了混合集成電路測試系統(tǒng)的核心部件——混合集成電路測試硬件測試板的設(shè)計。第三章主要介紹測試板硬件平臺的設(shè)計,包括混合集成電路測試用到的數(shù)字捕獲模塊(DCI),模擬捕獲模塊(ACI),程控電源的設(shè)計,高精密的模擬測量儀的設(shè)計等。第四章詳細研究了混合集成電路測試的 FPGA邏輯設(shè)計,對測試儀中芯片邏輯控制設(shè)計,包括對數(shù)模捕
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