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1、隨著集成電路的發(fā)展,航空,交通,國(guó)防裝備等各行個(gè)業(yè)對(duì)集成電路的需求更大,它們的電路運(yùn)行速率不斷提高,對(duì)集成電路芯片的時(shí)域響應(yīng)也提出了更嚴(yán)格的要求。集成電路的時(shí)域參數(shù)測(cè)試作為集成電路芯片時(shí)域響應(yīng)的檢測(cè)手段,已經(jīng)成為集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中不可缺少的一部分,越來(lái)越受到集成電路測(cè)試行業(yè)的重視。本文實(shí)現(xiàn)了一種對(duì)集成電路時(shí)域參數(shù)的測(cè)試儀器的研制,可以實(shí)現(xiàn)集成電路時(shí)域相關(guān)參數(shù)的工業(yè)化測(cè)量,具有很好的通用性。
本文首先介紹集成電路測(cè)試發(fā)展
2、狀況以及集成電路測(cè)試中對(duì)時(shí)域參數(shù)測(cè)量的意義,然后分析了集成電路測(cè)試系統(tǒng)中,對(duì)于時(shí)域參數(shù)測(cè)量的特殊性,并根據(jù)幾種通用的時(shí)域參數(shù)測(cè)試方法,選取了適當(dāng)?shù)臏y(cè)量方案,在此基礎(chǔ)上,按照測(cè)量需求,構(gòu)件并實(shí)現(xiàn)了測(cè)量的硬件電路。根據(jù)硬件電路實(shí)現(xiàn)的功能,設(shè)計(jì)了底層驅(qū)動(dòng)函數(shù),提供方便的硬件資源調(diào)用接口給用戶和上層函數(shù)。為了方便用戶對(duì)集成電路芯片進(jìn)行測(cè)量,本文設(shè)計(jì)了用于工程測(cè)量的操作界面程序。最后,文章給出了測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)告,并對(duì)報(bào)告進(jìn)行了分析,表明測(cè)量性能達(dá)到比
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