工業(yè)過程數(shù)據(jù)校正技術的研究.pdf

1、測量數(shù)據(jù)是實現(xiàn)過程設計、模擬、優(yōu)化及控制等很多工程技術工作的基礎和出發(fā)點,然而在實際的工業(yè)過程中,測量數(shù)據(jù)不可避免地含有各種誤差,包括隨機誤差和過失誤差。數(shù)據(jù)校正技術是利用冗余信息,結(jié)合各種統(tǒng)計分析方法和生產(chǎn)過程機理,剔除原始數(shù)據(jù)中的顯著誤差,降低隨機誤差的影響,并設法估計出未測變量。數(shù)據(jù)校正的目的就是要提高測量數(shù)據(jù)的準確性和可靠性,同時對工業(yè)過程中的未測變量進行估計。數(shù)據(jù)校J下包括三部分:數(shù)據(jù)協(xié)調(diào)、顯著誤差檢測和測量網(wǎng)冗余性分析。本文

2、主要針對工業(yè)穩(wěn)態(tài)過程,對數(shù)據(jù)協(xié)調(diào),數(shù)據(jù)分類,顯著誤差檢測方面做了如下研究。
　　 首先,對數(shù)據(jù)協(xié)調(diào)的穩(wěn)態(tài)模型和需要處理的問題進行了深入的分析,并對非線性條件和動態(tài)條件下的數(shù)據(jù)協(xié)調(diào)問題有所認識。針對由于存在數(shù)據(jù)協(xié)調(diào)過程中一些不可協(xié)調(diào)的已測變量和不可估計的未測變量,從而導致計算中斷的問題,對目前國際上通用的數(shù)據(jù)分類方法進行了研究,包括Crowe矩陣投影法,QR分解法,并且對現(xiàn)有的兩步矩陣投影算法進行了改進。經(jīng)過理論證明和實例計算分析

3、,改進的兩步矩陣投影算法,可以對數(shù)據(jù)進行正確的分類,不僅可以避免由于投影矩陣不唯一造成的可校正變量的丟失,而且可以降低矩陣的維數(shù),簡化計算,很好的解決了因為矩陣奇異而導致計算中斷的問題。
　　 其次,研究了顯著誤差檢測的原理以及顯著誤差檢測的方法,包括節(jié)點檢驗法,整體檢驗法,測量殘差檢驗法,主元分析法,基于聚類分析的顯著誤差檢測等方法;并且綜合利用MT-NT方法的優(yōu)點,研究了MT-NT合成的顯著誤差檢測方法;同時對測量誤差的方差