無(wú)結(jié)晶體管閾值電壓模型與新結(jié)構(gòu).pdf_第1頁(yè)
已閱讀1頁(yè),還剩67頁(yè)未讀, 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)的不斷進(jìn)步,晶體管特征尺寸已縮短至納米范疇,當(dāng)器件溝道長(zhǎng)度小于10nm以后,制造溝道PN結(jié)的工藝變得更為困難。基于這一問(wèn)題,溝道和源漏摻雜類型相同的無(wú)結(jié)晶體管再一次被提出。閾值電壓是器件最重要的電學(xué)參數(shù),它在器件模擬和電路設(shè)計(jì)方面都起著舉足輕重的作用。
  本文在簡(jiǎn)要介紹無(wú)結(jié)晶體管工作機(jī)理和優(yōu)勢(shì)的基礎(chǔ)上,深入研究了無(wú)結(jié)晶體管的閾值電壓提取方法、模型和新結(jié)構(gòu)。
  首先,分析總結(jié)了9類閾值電壓提取方法,分別利用它

2、們提取了不同溝道長(zhǎng)度 FinFET和納米線無(wú)結(jié)晶體管的閾值電壓。提取結(jié)果表明:不同的閾值電壓提取方法的提取結(jié)果各不相同,并且有些閾值電壓提取方法不適用于提取短溝道器件的閾值電壓。
  其次,通過(guò)求解二維泊松方程,建立了長(zhǎng)溝道三柵無(wú)結(jié)晶體管的亞閾值區(qū)電勢(shì)模型,在電勢(shì)模型的求解中首次考慮了埋氧層和襯底偏置的影響,并且也考慮了柵拐角的影響。在此基礎(chǔ)上,根據(jù)閾值電壓的定義,推導(dǎo)出了該器件的閾值電壓模型。電勢(shì)和閾值電壓模型的解析結(jié)果和三維模

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論