基于SWP接口的NFC-SIM芯片的測(cè)試方法及驗(yàn)證.pdf

1、近年來(lái)支持近場(chǎng)通訊功能的智能終端發(fā)展迅速,由于其天然安全性,近場(chǎng)通訊已成為移動(dòng)支付的主流技術(shù)。采用近場(chǎng)通訊的移動(dòng)支付在接觸端都是以單線傳輸接口為通訊接口;做為一種新的接口技術(shù),單線傳輸接口自2007被標(biāo)準(zhǔn)化以后得到了長(zhǎng)足的發(fā)展,可以預(yù)見(jiàn)單線傳輸技術(shù)在未來(lái)必定會(huì)有更廣闊的應(yīng)用,有極高的商業(yè)價(jià)值。
　　本文介紹了 NFC-SIM的優(yōu)缺點(diǎn)以及 NFC在手機(jī)通信的具體實(shí)現(xiàn)手段,即單線傳輸協(xié)議。并依據(jù)芯片的架構(gòu)和單線傳輸接口測(cè)試協(xié)議的要求給

2、出了測(cè)試平臺(tái)的搭建方案,包括從ADS到Keil4的測(cè)試軟件平臺(tái)移植、測(cè)試函數(shù)的補(bǔ)充和優(yōu)化以及基于MP300的標(biāo)準(zhǔn)化硬件測(cè)試平臺(tái)。測(cè)試驗(yàn)證工作從基礎(chǔ)通訊接口SCI7816和 UART接口開(kāi)始,在保證芯片基本功能正確性的基礎(chǔ)上再進(jìn)行了存儲(chǔ)器功能以及可靠性測(cè)試,包括多次擦寫等,以驗(yàn)證芯片整體的穩(wěn)定性。針對(duì)單線傳輸接口進(jìn)行了詳細(xì)的測(cè)試,包括電氣性能的和功能模塊以及SWP-HCI協(xié)議系統(tǒng)程序的失效分析。相關(guān)的測(cè)試結(jié)果表明基于SWP接口的NFC-S