通信芯片驗(yàn)證方法的研究.pdf

1、芯片的驗(yàn)證工作，對(duì)提高投片成功率起到關(guān)鍵性作用。有資料顯示，造成芯片一次投片成功率低于50%的主要原因就是功能驗(yàn)證還不夠完善。根據(jù)不同領(lǐng)域的驗(yàn)證對(duì)象和不同層次的驗(yàn)證模塊，功能驗(yàn)證有很多研究方向，如針對(duì)CPU、片上總線、存儲(chǔ)器等的驗(yàn)證。由此可見根據(jù)研究對(duì)象制定驗(yàn)證策略和驗(yàn)證方法對(duì)于提高投片成功率具有很大指導(dǎo)意義。 通信芯片一般具有實(shí)現(xiàn)收發(fā)幀、重傳、競爭信道、退避等功能。根據(jù)這些特點(diǎn)，它的功能驗(yàn)證需要模擬網(wǎng)絡(luò)環(huán)境中的情況來設(shè)計(jì)測試用

2、例，驗(yàn)證范圍不僅包括芯片自身在競爭到信道后的模塊處理情況，還包括在網(wǎng)絡(luò)中的多站點(diǎn)競爭的情況。針對(duì)這些要求論文提出了分階段的驗(yàn)證策略，第一階段采用單向施加激勵(lì)觸發(fā)的白盒驗(yàn)證方法，第二階段模擬多站點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，施加多站點(diǎn)競爭發(fā)送數(shù)據(jù)等測試用例，并應(yīng)用站點(diǎn)的處理結(jié)果觸發(fā)下一事務(wù)的發(fā)生，達(dá)到循環(huán)自觸發(fā)的半自動(dòng)化測試。 目前驗(yàn)證技術(shù)的發(fā)展都是要達(dá)到抽象化、自動(dòng)化、可重用性和可形式化驗(yàn)證等目標(biāo)。論文研究通信芯片的驗(yàn)證方法也是從上述幾方面出發(fā)