已閱讀1頁，還剩50頁未讀， 繼續(xù)免費(fèi)閱讀
版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、芯片測試是集成產(chǎn)業(yè)的最后一環(huán)，但在芯片的設(shè)計(jì)，芯片制造，芯片生產(chǎn)中都會(huì)有測試的存在，測試在集成電路中越來越不可缺少。
量產(chǎn)測試是芯片流向市場的最后一關(guān)，現(xiàn)在所有芯片都保持者百分之百的測試。在量產(chǎn)測試中，主要的測試儀器就是自動(dòng)測試設(shè)備(ATE)。自動(dòng)測試設(shè)備的產(chǎn)生，不但減少了測試時(shí)間，還降低了測試成本，使芯片大規(guī)模測試成為可能。但ATE也有其局限性，ATE的研發(fā)速度一般比芯片的升級(jí)速度慢，所以在實(shí)際測試中，ATE的性能不能滿足芯
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- HSDPA測試問題的分析.pdf
- 基于jpda的java軟件性能測試問題分析
- volte測試問題分析報(bào)告
- 基于構(gòu)件的軟件測試問題研究.pdf
- 基于ATE的SoC射頻測試技術(shù).pdf
- 基于ATE的電源芯片的測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與性能分析.pdf
- 功能測試問題及答案
- 基于分布式環(huán)境壓力測試問題的研究.pdf
- 基于ATE的模數(shù)轉(zhuǎn)換器測試.pdf
- 模擬報(bào)價(jià)測試問題反饋
- 有限域應(yīng)用----素?cái)?shù)測試問題
- 模擬報(bào)價(jià)測試問題反饋
- PD測試問題2.docx
- 測試問題管理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn).pdf
- 演化多目標(biāo)優(yōu)化測試問題的構(gòu)造.pdf
- 基于ATE的SRAM型FPGA測試技術(shù)研究.pdf
- GSM-R場強(qiáng)測試問題的研究.pdf
- 基于ATE的移動(dòng)端電源管理芯片DC-DC模塊的測試分析.pdf
- 基于ATE的百萬門級(jí)FPGA測試方法的研究.pdf
- 基于ATE的低成本測試方案的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論