基于ATE的SRAM型FPGA測試技術(shù)研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是當今世界最富吸引力的半導體，被廣泛的應用于日常生活的各個領(lǐng)域。隨著FPGA應用的不斷擴大，其可靠性的要求也越來越高，測試問題成為制約其發(fā)展和保證其可靠性的重要一環(huán)。
　　 針對可編程邏輯單元(CLB)，在自動測試設(shè)備(ATE)上結(jié)合現(xiàn)有的測試配置方案，提出了僅需一次配置的FPGA測試配置新方案，并完成了測試。該方法首先在ISE設(shè)計軟件中將CLB配置為某特定功能電路，經(jīng)過前后仿真確認無誤后下載到FPG

2、A中。然后在ATE上對下載后的設(shè)計電路編寫功能測試程序進行功能測試，并根據(jù)器件資料進行參數(shù)測試。最后使用可測性設(shè)計(DFT)中的邊界掃描法配合傳統(tǒng)測試方法，達到了對FPGA的有效全面地測試。
　　 以Xilinx公司的spartan-3系列芯片為測試對象，在ATE上實現(xiàn)FPGA的在線配置、功能測試、參數(shù)測試以及邊界掃描測試。實驗表明該方法具有故障覆蓋率高、測試易于實現(xiàn)和測試成本低等特點，從而為FPGA面向應用的測試提供了一種切實

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