基于特征比的平面目標(biāo)識(shí)別.pdf

1、本文研究嚴(yán)重射影變換下的平面目標(biāo)識(shí)別，提出一種以近幾年新出現(xiàn)的射影變換下的不變量——特征比和特征數(shù)為基礎(chǔ)的目標(biāo)識(shí)別算法，證明射影不變量在目標(biāo)識(shí)別中的作用。該算法首先提取平面目標(biāo)的邊界輪廓，將邊界上的等間隔采樣點(diǎn)作為特征點(diǎn)。進(jìn)而將邊界上兩個(gè)采樣點(diǎn)連接而成的直線與目標(biāo)圖像的交點(diǎn)用特征比表示。為描述圖像目標(biāo)的整體特征，本文將特征比值以譜線的形式進(jìn)行描述，并采用DTW算法對(duì)特征比譜進(jìn)行匹配，以確定特征點(diǎn)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
　　首先介紹射影變

2、換原理與射影不變量的概念，從中心投影模型推導(dǎo)出透視變換的基本公式，進(jìn)而推導(dǎo)出透視變換的變換矩陣定義，證明了射影變換是多次透視變換所形成的扭曲變換，說明了現(xiàn)實(shí)生活中不同角度觀察物體就會(huì)造成射影變換的原因。接著引出齊次坐標(biāo)作為后續(xù)求解特征比值的理論基礎(chǔ)，然后介紹交比和特征比的定義。
　　其次介紹了凸包的定義和常用幾種求解算法，進(jìn)而將凸包點(diǎn)相連結(jié)作為目標(biāo)的輪廓，然后在輪廓上每隔相同距離均勻采樣，將采樣點(diǎn)作為特征點(diǎn)。通過對(duì)一個(gè)特定采樣點(diǎn)的