光學損失故障對單晶硅電池模型參數(shù)影響的研究.pdf

1、分布廣泛且資源豐富的太陽能是當今最具有潛力的新能源。隨著光伏發(fā)電在全球的逐步發(fā)展，光伏發(fā)電站中光伏電池板的狀態(tài)監(jiān)控以及故障診斷顯的越來越重要。目前，國內(nèi)外學者對光伏陣列故障診斷的研究幾乎都停留在光伏陣列的連接結構上。已有的光伏電池故障診斷方法可分為大兩類:采用電信號診斷方法和采用紅外圖像診斷方法。而這兩類方法都是根據(jù)檢測太陽能電池的外特性來進行故障檢測的，雖然這些故障診斷方法有一定的工程價值，但這些研究仍停留于外特性，而沒有深入到光伏電

2、池模型的層面，沒有從模型的內(nèi)部機理來研究和分析故障。
　　為了深入研究光伏電池發(fā)生光學損失故障時電池模型參數(shù)如何發(fā)生變化，并對其進行定量描述。本文從光伏電池的發(fā)電原理出發(fā)，研究了單晶硅光伏電池的半導體結構與特性，分析電池發(fā)生故障時內(nèi)部參數(shù)的變化情況，并推導出光伏電池光學損失故障程度與模型參數(shù)之間的關系。由電池I-V輸出曲線對光伏電池的參數(shù)進行快速準確地參數(shù)辨識是本課題研究的關鍵，本文為此引入了自適應混沌粒子群參數(shù)辨識算法(SA-C