數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì).pdf

1、隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，集成電路產(chǎn)品在社會(huì)生活中的應(yīng)用越來越廣泛。如今，在工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和社會(huì)生活的各個(gè)方面無不存在大量的集成電路產(chǎn)品，這些電子產(chǎn)品的大量存在也推動(dòng)著社會(huì)的持續(xù)向前發(fā)展。其中對(duì)集成電路的測(cè)試貫穿于集成電路產(chǎn)業(yè)鏈的全過程，在這個(gè)過程中要完成集成芯片的功能測(cè)試、技術(shù)指標(biāo)測(cè)試，芯片的中測(cè)和成品的測(cè)試，以及用戶入庫(kù)檢測(cè)等一系列測(cè)試任務(wù)，以確保集成芯片的質(zhì)量。由此可見，集成電路測(cè)試在整個(gè)集成電路產(chǎn)業(yè)鏈中占據(jù)著舉足輕重的地位。
　　本

2、文介紹了一款基于ARM內(nèi)核實(shí)現(xiàn)的高精度、低成本、速度快、易操作且具有良好可擴(kuò)展性的中低檔數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)，并著重介紹了數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)軟件的總體設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)中所用到的技術(shù)。本測(cè)試系統(tǒng)硬件可提供最多32管腳的數(shù)字集成電路測(cè)試，測(cè)試向量深度可達(dá)2M，最快實(shí)現(xiàn)10M的測(cè)試頻率，并可根據(jù)所測(cè)芯片的類型選擇相應(yīng)的測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試系統(tǒng)軟件分為三大模塊：下層ARM程序模塊、USB驅(qū)動(dòng)模塊、上位機(jī)軟件模塊。其中下層ARM程序采用ADS1.2開發(fā)

3、工具進(jìn)行開發(fā)，實(shí)現(xiàn)各個(gè)測(cè)試板的驅(qū)動(dòng)程序和ARM內(nèi)核主程序；USB驅(qū)動(dòng)模塊借助VC6.0工具設(shè)計(jì)完成，是USB總線的接口驅(qū)動(dòng)程序，實(shí)現(xiàn)ARM與上位機(jī)的通信；上位機(jī)模塊使用C＃語(yǔ)言在VS2008下開發(fā)完成，是用戶的操作模塊，供用戶設(shè)置測(cè)試工程數(shù)據(jù)，而整個(gè)工程的所有數(shù)據(jù)信息通過SQL Server2000保存。采用這幾種語(yǔ)言和開發(fā)工具進(jìn)行開發(fā)，讓本集成電路測(cè)試軟件系統(tǒng)在集聚了它們各自優(yōu)勢(shì)的情況下，又不失兼容性。另外，讓軟件的各個(gè)組成模塊又保持