非均勻樣本的綜合孔徑輻射計反演方法研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、綜合孔徑輻射計是一種以高信號處理復雜度和硬件復雜度為代價,以換取空間分辨率和時間分辨率(成像時間)的提升的新型成像體制。為了進一步降低綜合孔徑輻射計冗余基線的數(shù)量,減少綜合孔徑輻射計系統(tǒng)的復雜度和成本,圓形陣列和旋轉(zhuǎn)陣列形式被提出,然而其缺陷在于過于復雜的亮溫圖像反演過程,因為該陣列排布方式下的采樣樣本不是均勻分布于整個采樣平面,常規(guī)的標準傅立葉變換不能直接運用于此反演過程。分布式綜合孔徑也因其子陣列之間存在較大距離,而導致基線缺失和可

2、見度數(shù)據(jù)非均勻分布的情況。本文著重研究非均勻樣本下的綜合孔徑輻射計反演方法。
　　論文首先全面介紹了綜合孔徑微波輻射計和非標準快速傅立葉變換算法的研究現(xiàn)狀,并詳細介紹了綜合孔徑微波輻射成像原理。在此基礎(chǔ)上,從天線陣列形式的角度,對綜合孔徑輻射計系統(tǒng)可見度數(shù)據(jù)非均勻分布的情況進行分析。然后,將一種非標準快速傅立葉變換算法,用于非均勻采樣樣本的綜合孔徑輻射計圖像反演計算,該算法結(jié)合了高斯算子和對過采樣樣本的快速傅立葉變換算法,仿真結(jié)果

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