基于片上網(wǎng)絡(luò)的低功耗測(cè)試調(diào)度技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、隨著超大規(guī)模集成電路集成度和復(fù)雜度的提高,尤其是系統(tǒng)芯片SoC(System-on-Chip)與片上網(wǎng)絡(luò)NoC(Network-on-Chip)的蓬勃發(fā)展,使得集成電路的測(cè)試面臨越來(lái)越多的挑戰(zhàn)。測(cè)試功耗、測(cè)試數(shù)據(jù)量和測(cè)試應(yīng)用時(shí)間三大問(wèn)題一直是近年來(lái)測(cè)試研究所關(guān)注的重要方面。隨著工藝發(fā)展和各種高性能、便攜式設(shè)備的廣泛使用,電子設(shè)備的功耗問(wèn)題已經(jīng)日益突出,它已經(jīng)成為設(shè)計(jì)與測(cè)試中必須關(guān)注的重要方面。一個(gè)性能良好的系統(tǒng)既取決于低功耗設(shè)計(jì)技術(shù),也

2、取決于所采用的低功耗約束的測(cè)試技術(shù)。
   多核芯片測(cè)試數(shù)據(jù)量的增加,導(dǎo)致測(cè)試功耗急劇上升。因此研究多核芯片BIST低功耗測(cè)試模式生成和應(yīng)用,具有十分重要的意義。在基于多核的設(shè)計(jì)中,NoC是一種新的范例。NoC測(cè)試時(shí)重用片上通信網(wǎng)絡(luò)為減少測(cè)試代價(jià)起到了決定性作用。然而,在當(dāng)今的高密度系統(tǒng)上的功耗限制惡化了測(cè)試調(diào)度的難題。針對(duì)NoC測(cè)試時(shí)峰值功耗過(guò)高的問(wèn)題,本文首先提出了一種低功耗的測(cè)試調(diào)度算法,對(duì)于每個(gè)端口測(cè)試時(shí)都優(yōu)先選擇具有最

3、低功耗的核進(jìn)行調(diào)度,使得每個(gè)核都以最低功耗進(jìn)行調(diào)度,由局部最優(yōu)達(dá)到總體最優(yōu),有效地降低了測(cè)試總功耗。
   本文研究了基于多核的BIST低功耗測(cè)試模式生成體系結(jié)構(gòu),同時(shí),研究面向低功耗的多核測(cè)試訪問(wèn)機(jī)制TAM(Test Access Mechanism)和控制電路共享的策略問(wèn)題。研究如何把多核芯片BIST測(cè)試調(diào)度問(wèn)題模型化為一個(gè)多約束、特別是功耗約束條件下資源優(yōu)化問(wèn)題,并通過(guò)調(diào)度算法來(lái)綜合解決測(cè)試功耗、測(cè)試時(shí)間和面積開銷問(wèn)題。本

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