基于掃描的耗時(shí)少低功耗的可測(cè)試性技術(shù)研究.pdf_第1頁(yè)
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1、碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文基于掃描的耗時(shí)少低功耗的可測(cè)試性技術(shù)研究STUDYOFSCANBASEDDFTTECHNIQUESFSHTTESTTIMELOWTESTPOWER于婷婷于婷婷哈爾濱工業(yè)大學(xué)哈爾濱工業(yè)大學(xué)2014年12月ClassifiedIndex:TN47U.D.C:621.38DissertationftheMasterDegreeinEngineeringSTUDYOFSCANBASEDDFTTECHNIQUESFSHTT

2、ESTTIMELOWTESTPOWERCidate：YuTingtingSupervis：AssistantProf.CuiAijiaoAcademicDegreeAppliedf：MasterofEngineeringSpecialty:MicroelectronicsSolidstateElectronicsAffiliation：ShenzhenGraduateSchoolDateofDefence:December2014Deg

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