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文檔簡介
1、指導小組成員:吳曉京教授張聽副教授25電阻開關過程中的導電路徑2026集成前精213本論文的選題意義和研究內容23參考文獻25第二章Cu/Ta/Si02/Si多層膜納米壓入與壓痕F微觀結構的研究32212223銅互連體系的可靠性問題與力學特性32納米壓入實驗方法33實驗過程35231樣品制備35232納米壓入實驗36233壓痕F微觀結構的研究3724實驗結果及討論3824I壓痕形貌38242硬度與彈性模量~39243壓痕下方的微觀結構4
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