基于脈沖波形分析的帶電粒子鑒別方法研究.pdf

1、帶電粒子探測技術(shù)在輻射防護(hù)、環(huán)境監(jiān)測、粒子事件預(yù)報以及核素分析等領(lǐng)域應(yīng)用普遍。由于種類多樣，在對帶電粒子進(jìn)行探測時必須進(jìn)行粒子鑒別，也就是要測出其原子序數(shù)Z和質(zhì)量數(shù)A。目前，人們已經(jīng)提出了許多種鑒別方法，而脈沖波形分析法（PSA）由于包含豐富的粒子信息，成為帶電粒子鑒別方法的研究重點(diǎn)。
　　本文基于實驗事實，將頻域分析引入帶電粒子鑒別領(lǐng)域，提出了一種頻率比值分析法（FRA）。論文構(gòu)建了一個由全耗盡型硅探測器、前置放大器（CANBE

2、RRA Model2003BT）、數(shù)據(jù)采集卡（CAEN V1729A）、高壓電源（ORTEC556）、快放大器（ORTEC9302）組成的帶電粒子探測平臺。實驗中完成了對α粒子和質(zhì)子的測量。其中，α粒子由鍍鈾銅片衰變產(chǎn)生，而質(zhì)子則由252Cf衰變產(chǎn)生的中子轟擊聚乙烯膜產(chǎn)生。在得到實驗數(shù)據(jù)后，又完成了無效數(shù)據(jù)剔除、基線消除、脈沖截取、歸一化以及能量刻度等數(shù)據(jù)處理過程，再經(jīng)過傅里葉變換后得到質(zhì)子和α粒子的頻譜特性曲線。分析兩種粒子的頻域特性