中小尺寸LCD控制芯片低功耗可測性設計與靜態(tài)時序分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文討論的內容是針對中小規(guī)模液晶顯示應用而設計的一款圖形顯示控制芯片，對該芯片的低功耗和可測性設計進行研究，提出了完整的低功耗和可測性設計方案。在不同的設計層次，結合使用了動態(tài)功耗管理、存儲器分塊、預計算技術等多種流行的低功耗設計技術，以極低的面積開銷十分有效的降低了芯片正常工作模式的功耗。芯片的測試采用掃描測試與MBIST測試相結合的方案。通過增加少許電路結構，解決了由于內部多時鐘以及多個嵌入式存儲器模塊的結構帶來的影響可測性要求的問

2、題。全芯片總共構造16條掃描鏈，使用Synopsys TetraMAX完成自動測試圖形生成(ATPG)。通過對錯誤仿真分析表明，掃描測試達到了較高的測試覆蓋率?？蓽y性設計中也充分考慮了低功耗的要求，如掃描測試狀態(tài)下關閉存儲器讀寫時鐘，禁止存儲器的讀寫操作；MBIST測試狀態(tài)下關閉所有功能模塊時鐘以及尚未工作的MBIST模塊時鐘。這些措施都十分明顯的地降低了測試過程中的功耗浪費。本文最后給出了可測性和低功耗設計下對LCD控制芯片分別進

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