基于DSP的非均勻采樣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)和制造技術(shù)的飛速發(fā)展,以Shannon均勻采樣定理為基礎(chǔ)的數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)得到了飛速發(fā)展和廣泛應(yīng)用,但是,在具體的工程實(shí)踐中,Shannon采樣定理也顯現(xiàn)出了它的局限性.本文主要探討了非均勻采樣的基本理論及實(shí)現(xiàn),并研制出一套基于DSP的非均勻采樣系統(tǒng).本文首先從均勻采樣的頻譜分析出發(fā),推導(dǎo)出非均勻采樣的頻譜計(jì)算公式,并對(duì)其頻譜計(jì)算的精度進(jìn)行了理論分析.接著,結(jié)合實(shí)際工程實(shí)踐,給出了實(shí)際條件對(duì)非均勻采樣頻譜計(jì)算的影響

2、和實(shí)現(xiàn)非均勻采樣的近似方法--非均勻周期采樣.在非均勻采樣的實(shí)現(xiàn)部分,詳細(xì)討論了非均勻采樣的實(shí)現(xiàn)方法,給出了以高性能數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、可編程邏輯器件(CPLD)和USB2.0接口為基礎(chǔ)的硬件實(shí)現(xiàn)框架,并詳細(xì)介紹了硬件實(shí)現(xiàn)的各個(gè)組成部分,包括芯片選用、電路連接等.接著,詳細(xì)介紹了軟件實(shí)現(xiàn),以硬件平臺(tái)為基礎(chǔ),實(shí)現(xiàn)了非均勻采樣的頻譜計(jì)算算法,最后,在第6章中給出了實(shí)際測(cè)量出的頻譜和系統(tǒng)指標(biāo).本文深入探討了非均勻采樣的基本理論,并與均勻