基于SAN的RAID控制器的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著計(jì)算機(jī)和網(wǎng)絡(luò)的飛速發(fā)展，計(jì)算機(jī)在各個(gè)行業(yè)的應(yīng)用越來(lái)越廣泛和深入。在大多數(shù)企業(yè)、大多數(shù)行業(yè)都存在一些關(guān)鍵的應(yīng)用，這些應(yīng)用必須7d*24h不間斷運(yùn)行。在這樣的情況下，系統(tǒng)的高可用性就顯得尤為重要，對(duì)存儲(chǔ)技術(shù)也提出了更高的要求。 SAN技術(shù)由于其自身所具有的諸多優(yōu)點(diǎn)正在得到越來(lái)越廣泛的應(yīng)用。在SAN中，數(shù)據(jù)存放在網(wǎng)絡(luò)中的存儲(chǔ)設(shè)備里?，F(xiàn)階段的存儲(chǔ)設(shè)備，是以冗余磁盤陣列RAID為主。RAID在極大地提高了數(shù)據(jù)的可靠性和安全性的同時(shí)，

2、在容錯(cuò)能力方面還存在一些提升空間。 1．雖然硬件技術(shù)的發(fā)展大大提高了系統(tǒng)的可靠性，但是，由于系統(tǒng)內(nèi)其它核心部件(如CPU、主板、物理內(nèi)存等)的故障，應(yīng)用系統(tǒng)在一年365天內(nèi)還是可能出現(xiàn)44～87小時(shí)的停機(jī)時(shí)間，這就要求從更高層次、更多方面綜合考慮提高系統(tǒng)的高可用性。 2．系統(tǒng)崩潰、意外斷電或者硬盤出現(xiàn)壞道，都可能導(dǎo)致陣列上的數(shù)據(jù)被破壞和分條數(shù)據(jù)不一致。如果在分條數(shù)據(jù)不一致的狀態(tài)時(shí)，發(fā)生硬盤故障，陣列控制器就無(wú)法通過(guò)奇偶校

3、驗(yàn)計(jì)算出正確的數(shù)據(jù)，陣列將無(wú)法保證重構(gòu)后的數(shù)據(jù)一致性，造成數(shù)據(jù)錯(cuò)誤或丟失的嚴(yán)重的后果。 所以本文在深入研究了RAID控制器設(shè)計(jì)中的多種關(guān)鍵技術(shù)的基礎(chǔ)上，提出雙RAID控制器active—active的解決方案和分條校驗(yàn)和修復(fù)算法。經(jīng)過(guò)對(duì)此控制器進(jìn)行詳盡的功能性測(cè)試，測(cè)試結(jié)果證明本RAID控制器無(wú)論是在正常使用環(huán)境下，還是在異常情況下，都能較好地適應(yīng)環(huán)境的變化，保證業(yè)務(wù)的可用性。并且雙控的設(shè)計(jì)在正常情況下還可以分擔(dān)負(fù)載，提高效率。