大面積高溫超導(dǎo)雙面薄膜的無損測量.pdf

1、當(dāng)今,人們能夠用各種各樣的方法制備高溫超導(dǎo)薄膜,高溫超導(dǎo)薄膜也已經(jīng)應(yīng)用于微波、軍事、通訊等領(lǐng)域.對于超導(dǎo)薄膜而言,除了要有高的臨界溫度,還要求有高的臨界電流密度的良好的表面均勻性.該文陳術(shù)了一種利用磁屏工蔽的原理,采用30個(gè)初、次并繞線的線圈作為探頭,能夠測量直徑小于50mm(2英寸)的高溫超導(dǎo)雙面薄膜臨界參數(shù)的測量系統(tǒng),這個(gè)測量系統(tǒng)只需要一個(gè)熱循環(huán)就可以給出超導(dǎo)雙面薄膜30個(gè)點(diǎn)的臨界溫度和臨界電流密度值,整個(gè)測量過程是無損.整個(gè)系統(tǒng)的

2、全部運(yùn)行過程采用計(jì)算機(jī)控制,自行設(shè)計(jì)了面向本系統(tǒng)的專用軟件、軟件系統(tǒng)運(yùn)行在Windows操作系統(tǒng)中,有良好的用戶界面,操作簡單、快捷、而且不易出現(xiàn)由于人為因素造成的問題.在該文中,講述了高溫超導(dǎo)薄膜的發(fā)展進(jìn)程以及目前應(yīng)用情況,闡明了對高溫超導(dǎo)薄膜的臨界參數(shù)進(jìn)行測量的必要性;陳述了系統(tǒng)對臨界溫度和臨界電流密度的測量原理;詳細(xì)敘述了系統(tǒng)的硬件制作、電子系統(tǒng)的設(shè)計(jì),列出了在系統(tǒng)研制過程中遇到的問題,并給出了解決方法;該文還詳盡地講述了測量系統(tǒng)