基于人工免疫-蟻群混合算法的VLSI布線研究.pdf

1、目前，以集成電路為核心的電子信息產(chǎn)業(yè)已經(jīng)超過了以汽車、石油、鋼鐵為代表的傳統(tǒng)工業(yè)成為第一大產(chǎn)業(yè)，并成為改造和拉動(dòng)傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)向數(shù)字時(shí)代邁進(jìn)的強(qiáng)大引擎。集成電路技術(shù)在摩爾定律的引導(dǎo)下，逐步向提高集成度、降低功耗、增強(qiáng)性能的方向發(fā)展。相應(yīng)的系統(tǒng)規(guī)模的擴(kuò)大，使得集成電路設(shè)計(jì)中的很多困難的問題凸顯出來。此外，集成電路本身的物理設(shè)計(jì)能力也一直落后于工藝制造能力，因此造成了這樣的局面：現(xiàn)有的EDA工具難以應(yīng)付復(fù)雜度呈指數(shù)增長(zhǎng)的諸多VLSI物理設(shè)計(jì)難題，

2、也缺乏對(duì)超深亞微米工藝下一系列新問題的考慮。 同時(shí)，在計(jì)算智能領(lǐng)域，各州優(yōu)化技術(shù)的蓬勃發(fā)展，為解決NP復(fù)雜度的問題提供了方法和啟示。本文就是在這樣的背景下，研究計(jì)算智能方法在超深亞微米工藝下性能驅(qū)動(dòng)VLSI生產(chǎn)工序中關(guān)鍵環(huán)節(jié)——物理設(shè)計(jì)中的應(yīng)用。本文首先介紹了VLSI布線過程的幾種方法，就物理設(shè)計(jì)中BBL模式下典型的兩端繞障礙布線問題，提出了一種基于路徑圖的布線模型。之后，介紹了如何采用蟻群算法對(duì)路徑圖模式實(shí)施布線。接著討論了如