高動態(tài)范圍閉環(huán)微加速度計接口ASIC電路設計.pdf

1、閉環(huán)電容式微加速度計憑借其高靈敏度、高動態(tài)范圍、低功耗、體積小等優(yōu)點，成為了慣性器件研究的熱點。隨著微加速度計在商用、民用、軍用等各個方面的廣泛普及，對于其性能的要求也越來越高。
　　對于閉環(huán)微加速度計來說，其性能指標主要取決于接口電路。因此，設計高性能的接口電路，是提高閉環(huán)微加速度計的動態(tài)范圍的重要途徑。
　　閉環(huán)微加速度計的噪聲以及量程大小決定了加速度計的動態(tài)范圍。本文在研究了閉環(huán)微加速度計工作原理、接口電路結構的基礎上

2、，詳細分析了微加速度計各部分噪聲，其中前級運算放大器噪聲和參考電壓噪聲對整體噪聲影響顯著，是主要的噪聲源。
　　利用HP35670A動態(tài)分析儀測試微加速度計噪聲，接口電路分別搭載618所翹板式結構和北京大學叉指式結構，噪聲測試結果為搭載618所翹板式結構時，加速度計的系統(tǒng)實測噪聲密度為10μV/ Hz；搭載北京大學叉指式結構時，加速度計系統(tǒng)實測噪聲密度為8μV/ Hz。
　　在分析與測試結果基礎上，設計低噪聲前級運算放大器，