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文檔簡介
1、三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺是CCD成像制導(dǎo)半實(shí)物仿真測試的關(guān)鍵設(shè)備。位置精度、速度精度、低速性能是三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺的重要性能指標(biāo)。影響三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺精度和低速性能的因素有摩擦力矩、轉(zhuǎn)臺軸系之間的耦合、工頻干擾、噪聲干擾、機(jī)械諧振等。為了提高三軸仿真轉(zhuǎn)臺的精度和低速性能,在不增加硬件開銷的情況下,本文從算法(軟件)角度研究三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺飼服控制、摩擦力補(bǔ)償、解耦、濾波這幾個關(guān)鍵技術(shù),給了相應(yīng)的解決措施。
三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺的控制在本質(zhì)上
2、是直流飼服電機(jī)的控制,本文第二章研究了直流飼服電機(jī)的控制。直流飼服電機(jī)采用電流環(huán)、速度環(huán)和位置環(huán)三環(huán)嵌套控制。為了提高響應(yīng)速度,引進(jìn)了模糊控制算法。電流環(huán)采用PI控制,速度環(huán)采用模糊PID切換控制,在大的誤差范圍內(nèi),采用模糊控制以提高控制的快速性,在小誤差范圍內(nèi),采用PID控制以保證控制的精確性。位置環(huán)采用前饋+模糊PID控制。仿真表明,這種傳統(tǒng)控制算法和現(xiàn)代控制算法相結(jié)合的控制策略有效地提高了三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺的響應(yīng)時(shí)間。
摩
3、擦力是影響三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺低速性能的主要因素,本文設(shè)計(jì)了一種復(fù)合自適應(yīng)摩擦力補(bǔ)償算法,在線辨識參數(shù)。一方面,從基于李雅普諾夫原理的自適應(yīng)理論得了一種自適應(yīng)摩擦力估計(jì),另一方面,從基于最小二乘法原理的系統(tǒng)辨識角度,得出另一種自適應(yīng)摩擦力估計(jì),然后把這兩種摩擦力線性組合起來,得到了一種復(fù)合摩擦力補(bǔ)償算法,理論和仿真都表明,這種復(fù)合自適應(yīng)摩擦力補(bǔ)償算法,既具有自適應(yīng)控制全局穩(wěn)定收斂的特點(diǎn),又具有最小二乘法在線更新參數(shù)的特點(diǎn),是一種實(shí)用有效的自
4、適應(yīng)摩擦力補(bǔ)償算法。
三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺各軸系之間的耦合影響了轉(zhuǎn)臺的精度,解耦是三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺控制必須要解決的問題。本文采用基于逆系統(tǒng)的Singh法解耦,這種方法根據(jù)三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺各軸系之間的耦合數(shù)學(xué)模型,用Singh法求出其逆系統(tǒng),再把求得的逆系統(tǒng)串接在原三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺耦合物理系統(tǒng)前面構(gòu)成偽線性系統(tǒng),進(jìn)行動態(tài)解耦設(shè)計(jì)。逆系統(tǒng)Singh法解耦,避開了Falb-Wolovich解耦矩陣為奇異的情況。本文給了三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺基
5、于逆系統(tǒng)Singh法解耦實(shí)例,仿真表明,只要三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺的耦合數(shù)學(xué)模型足夠精確,就能夠完全消除耦合干擾。
工頻干擾、機(jī)械諧振、測量噪聲、高斯噪聲和高頻噪聲等都直接或間接地影響著三軸光學(xué)測試轉(zhuǎn)臺的精度,針對這些干擾或噪聲,本文討論了三軸光學(xué)測試中的濾波技術(shù)。設(shè)計(jì)了自適應(yīng)陷波濾波器來消除工頻干擾和機(jī)械諧振,設(shè)計(jì)了卡爾曼濾波器來消除測量噪聲和常值干擾力矩,在卡爾曼濾波的基礎(chǔ)上,討論了加速度反饋控制。此外,還簡要介紹了低通濾波等濾
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