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1、隨著半導體技術(shù),包括各類晶體管、集成電路、信號處理、數(shù)據(jù)處理和計算機技術(shù)等突飛猛進的發(fā)展,極大地推進了相控陣雷達技術(shù)的發(fā)展,并降低了相控陣雷達的造價,當前世界各國新研制的雷達多數(shù)為相控陣雷達。 相控陣天線依靠控制各通道的相位,實現(xiàn)波束掃描,而通道的幅相變化將影響到陣面性能,因此必須開展陣面校準的方法研究,校準方案反過來又影響著相控陣系統(tǒng)的設(shè)計。為達到校準和診斷的目的,專家學者研究了多種方法,如內(nèi)監(jiān)測校準法、外監(jiān)測中場校準法、遠場
2、校準法等這些方法具有一定的適用對象,在系統(tǒng)設(shè)計時必須考察使用條件。 本文以X波段試驗陣面為平臺,著重研究了外監(jiān)測技術(shù)中極化效應(yīng)和校準算法。本文分析了線極化的收發(fā)天線間極化效應(yīng)引入誤差的形式,進行了研究仿真,給出抑制收發(fā)天線間極化效應(yīng)誤差的約束條件;在校準過程中,傳統(tǒng)的單路通方法的測試信號通過波束形成網(wǎng)絡(luò)后,信號功率衰減較大,致使信噪比太低,嚴重影響到校準結(jié)果,本文提出了“局部反相法”,測試過程中子陣級單元全部導通,通過控制某幾個
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