X波段陣面校準(zhǔn)技術(shù)研究.pdf

1、隨著半導(dǎo)體技術(shù)，包括各類晶體管、集成電路、信號(hào)處理、數(shù)據(jù)處理和計(jì)算機(jī)技術(shù)等突飛猛進(jìn)的發(fā)展，極大地推進(jìn)了相控陣?yán)走_(dá)技術(shù)的發(fā)展，并降低了相控陣?yán)走_(dá)的造價(jià)，當(dāng)前世界各國(guó)新研制的雷達(dá)多數(shù)為相控陣?yán)走_(dá)。 相控陣天線依靠控制各通道的相位，實(shí)現(xiàn)波束掃描，而通道的幅相變化將影響到陣面性能，因此必須開展陣面校準(zhǔn)的方法研究，校準(zhǔn)方案反過來(lái)又影響著相控陣系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。為達(dá)到校準(zhǔn)和診斷的目的，專家學(xué)者研究了多種方法，如內(nèi)監(jiān)測(cè)校準(zhǔn)法、外監(jiān)測(cè)中場(chǎng)校準(zhǔn)法、遠(yuǎn)場(chǎng)

2、校準(zhǔn)法等這些方法具有一定的適用對(duì)象，在系統(tǒng)設(shè)計(jì)時(shí)必須考察使用條件。 本文以X波段試驗(yàn)陣面為平臺(tái)，著重研究了外監(jiān)測(cè)技術(shù)中極化效應(yīng)和校準(zhǔn)算法。本文分析了線極化的收發(fā)天線間極化效應(yīng)引入誤差的形式，進(jìn)行了研究仿真，給出抑制收發(fā)天線間極化效應(yīng)誤差的約束條件；在校準(zhǔn)過程中，傳統(tǒng)的單路通方法的測(cè)試信號(hào)通過波束形成網(wǎng)絡(luò)后，信號(hào)功率衰減較大，致使信噪比太低，嚴(yán)重影響到校準(zhǔn)結(jié)果，本文提出了“局部反相法”，測(cè)試過程中子陣級(jí)單元全部導(dǎo)通，通過控制某幾個(gè)