光學(xué)成像監(jiān)測局灶性腦缺血的動力學(xué)過程.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、局灶性腦缺血是常見的腦血管疾病之一,致殘率和致死率高,研究其病理機(jī)制和防治措施具有重大意義。光學(xué)成像方法能夠?qū)崿F(xiàn)在體實時監(jiān)測局灶性腦缺血的動力學(xué)過程,其中,基于內(nèi)源信號的光學(xué)成像技術(shù)是到目前為止的具有最高的空間分辨率和適用的時間分辨率的在體腦功能成像技術(shù),為研究局灶性腦缺血過程中皮層的功能活動提供了有力的工具;此外,激光散斑光學(xué)成像技術(shù)用于測量局部腦皮層血流分布時可獲得較高的時間分辨率和空間分辨率,在測量血流上有優(yōu)勢。通過對局灶性腦缺血

2、動力學(xué)過程的研究,可以了解腦缺血性損傷的病理生理學(xué)機(jī)制,對臨床診斷、治療及判斷預(yù)后等具有重要的指導(dǎo)作用。 本文利用內(nèi)源信號光學(xué)成像觀測缺血過程中的自發(fā)皮層擴(kuò)散性抑制波,以光信號特征來反映缺血半暗帶并監(jiān)測其動態(tài)發(fā)展,并應(yīng)用激光散斑技術(shù)實時監(jiān)測腦缺血及缺血再灌注的血流動力學(xué)過程,以研究缺血皮層區(qū)域損傷的發(fā)展規(guī)律及轉(zhuǎn)歸。主要研究內(nèi)容和研究結(jié)果如下: (1)采用550 nm內(nèi)源信號光學(xué)成像監(jiān)測大腦中動脈栓塞局灶性腦缺血模型的血流

3、動力學(xué)過程。大腦中動脈栓塞后4小時內(nèi),在頂葉皮層觀測到一系列自發(fā)擴(kuò)散性抑制波(10.3±4.6次)。前兩小時內(nèi)的擴(kuò)散性抑制波通常會侵襲整個左側(cè)頂葉皮層,但光信號有明顯的區(qū)域差異。后兩小時內(nèi)的擴(kuò)散性抑制波局限于頂葉皮層中央?yún)^(qū)域,且傳播面積逐次減少;旁側(cè)區(qū)域光強基線逐步升高,4小時末,反射光強升高8.4±1.2﹪。隨后TTC染色證明上述旁側(cè)區(qū)域已經(jīng)梗死。實驗表明內(nèi)源信號光學(xué)成像技術(shù)為確定缺血半暗帶并監(jiān)測其動態(tài)發(fā)展提供了一種有效方法。

4、 (2)使用激光散斑襯比成像技術(shù)實時監(jiān)測大腦中動脈栓塞局灶性腦缺血及再灌注模型的血流動力學(xué)過程。觀測了缺血30分鐘和60分鐘腦血流的變化情況,觀測到了低灌注、無灌注及過度灌注現(xiàn)象。研究了不同栓塞時間對栓塞后腦血流及再灌注后腦血流的影響。實驗結(jié)果表明:腦缺血30分鐘后,腦血流下降到基值的35±3﹪,腦缺血60分鐘后,腦血流下降到基值的20±3﹪,解除栓塞后首先出現(xiàn)快速充血過程,持續(xù)10~15分鐘,充血恢復(fù)的灌注量是栓塞前的80±10﹪,充

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