序列密碼中k錯線性復(fù)雜度算法與位置錯誤譜的研究.pdf

1、序列密碼是密碼學(xué)中最主要和最重要的組成部分之一，也是保密通信中的一個重要的密碼體制，而線性復(fù)雜度和-錯線性復(fù)雜度是衡量偽隨機序列的密碼強度的重要指標。如果改變一個周期序列中的某幾個位置值后，該序列的線性復(fù)雜度急劇下降，則我們認為這種周期序列是極不穩(wěn)定的，用來作為密鑰序列是很不安全的。因此，可用-錯線性復(fù)雜度來衡量周期序列的穩(wěn)定性。繼Stamp-Martin算法后，推廣周期序列的 -錯線性復(fù)雜度算法是有意義的，設(shè)計出新的-錯線性復(fù)雜度算法

2、也具有一定的應(yīng)用價值。
　　 另外，對于一些完全不相同的周期序列，卻有相同的 -錯線性復(fù)雜度，是因為在描述周期序列穩(wěn)定性的-錯線性復(fù)雜度的概念中，忽略了個位置的不同對改變后的周期序列的線性復(fù)雜度也是會產(chǎn)生影響的，給出其位置錯誤譜將能很好地刻畫序列的線性復(fù)雜度的變化情況。
　　 在本文中主要給出兩個結(jié)果。首先設(shè)S為有限域上周期為的序列，其中是不同的素數(shù)是模的一個本原根，并且互素是正整數(shù)，我們運用廣義離散傅立葉變換的方法，提