一般而言，網(wǎng)路分析儀在射頻及微波元件方面的量測

1、<p>　　一般而言，網(wǎng)絡分析儀在射頻及微波組件方面的量測上，是最基本、應用層次也最廣的儀器，它可以提供線性及非線性特性組件的量測參數(shù)，因此，舉凡所有射頻主被動組件的仿真、制程及測試上，幾乎都會使用到。在量測參數(shù)上，它不但可以提供反射系數(shù)，并從反射系數(shù)換算出阻抗的大小，且可以量測穿透系數(shù)，以及推演出重要的S參數(shù)及其它重要的參數(shù)，如相位、群速度延遲(Group Delay)、插入損失(Insertion Loss)、增益(Gai

2、n)甚至放大器的1dB壓縮點(Compression point)等。</p><p><b>　　基本原理</b></p><p>　　電子電路組件在高頻下工作時，許多特性與低頻的行為有所不同，在高頻時，其波長與實際電路組件的物理尺度相比會相對變小，舉例來說，在真空下的電磁波其速度即為光速，則c=λ×f，其中c為光速3×108m/sec，若操作在

3、2.4GHz的頻率下，若不考慮空氣的介電系數(shù)，則波長λ=12.5cm，亦即在短短的數(shù)公分內，電壓大小就會因相位的偏移而有極大的變化。因此在高頻下，我們會使用能量及阻抗的觀念來取代低頻的電壓及電流的表示法，此時我們就會引入前述文章所提「波」的概念。</p><p>　　光波屬于電磁波的一種，當我們用光分析一個組件時，會使用一個已知的入射光源測量未知的待測物，當光波由空氣到達另一個介質時，會因折射率的不同產(chǎn)生部分反射

4、及部分穿透的特性，例如化學成分分析上使用的穿透及反射光譜。對于同樣是屬電磁波的射頻來說，道理是相通的，光之于折射率就好比微波之于阻抗的概念，當一個電磁波到達另一個不連續(xù)的阻抗接口時，同樣也會有穿透及反射的行為，從這些反射及穿透行為的大小及相位變化中，就可以分析出該組件的特性。</p><p>　　用來描述組件的參數(shù)有許多種，其中某些只包含振幅的訊息，如回返損耗(R.L. Return Loss)、駐波比(SWR

5、Standing Wave Ratio)或插入損失(I.L. Insertion Loss)等，我們稱為純量，而能得到如反射系數(shù)(Γ Reflection coefficient)及穿透系數(shù)(Τ Transmission coefficient)等，我們稱之為向量，其中向量可以推導出純量行為，但純量卻因無相位信息而無法推導出向量特性。</p><p><b>　　重要的向量系數(shù)</b><

6、;/p><p><b>　　反射特性</b></p><p>　　在此，我們重點介紹幾個重要的向量系數(shù)︰首先，我們從反射系數(shù)來定義，其中Vrefect為反射波、Vinc為入射波，兩者皆為向量，亦即包含振幅及相位的信息，而反射系數(shù)代表入射與反射能量的比值，經(jīng)過理論的演算，可以從傳輸線的特性阻抗ZO(Characteristic Impedance)得到待測組件的負載阻抗ZL

7、，亦即，在網(wǎng)絡分析中，一般使用史密斯圖(Smith Chart)來標示不同頻率下的阻抗值。另外，反射系數(shù)也可以使用極坐標表示： ，其中為反射系數(shù)的大小，φ則表示入射與反射波的相位差值。</p><p>　　接下來，介紹兩個純量的參數(shù)--駐波比及回返損耗，其中駐波的意義是入射波與被待測裝置反射回來的反射波造成在傳輸線上的電壓或電流駐波效應，而駐波比(SWR)的定義就是駐波中的最大與最小能量的比值，我們可以從純量的反

8、射系數(shù)中得到。</p><p>　　同樣，我們也可以從ρ值定義出回返損耗(R.L.)，其意義是反射能量與入射能量的比值，其值愈大，代表反射回來的能量愈小。</p><p>　　對于反射系數(shù)所衍生的相關純量參數(shù)，我們將其整理成表1，基本上，它們之間是換算的過程，會因為產(chǎn)業(yè)及應用的不同而傾向于使用某一參數(shù)。</p><p><b>　　REMARK:</

9、b></p><p>　　駐波系數(shù)又叫做駐波比,如果電纜線路上有反射波,它與行波相互作用就會產(chǎn)生駐波,這時線上某些點的電壓振幅為最大值Vmax,某些點的電壓振幅為最小值Vmin,最大振幅與最小振幅之比稱為駐波系數(shù).駐波系數(shù)越大,表示線路上反射波成分愈大, 也表示線路不均勻或線路終端失配較大.為控制電纜的不均勻性,要求一定長度的終端匹配的電纜在使用頻段上的輸入駐波系數(shù)S不超過某一規(guī)定的數(shù)值.電纜中不均勻性的大

10、小,也可用反射衰減來表示.反射系數(shù)的倒數(shù)的絕對值取對數(shù),稱為反射衰減.反射衰減愈大,即反射系數(shù)愈小,也就是駐波比愈小,即表示內部不均勻性越小.</p><p><b>　　穿透特性</b></p><p>　　對于穿透的特性，一樣有分為純量與向量兩種，對于向量系數(shù)而言，最重要的就是穿透系數(shù) ，其中Vtrans為經(jīng)過待測物后的穿透波、Vinc為入射波，而τ即為穿透系數(shù)的

11、純量大小，θ則表示入射與穿透波的相位差值。</p><p>　　對于純量的定義上，以被動組件而言，最常使用的就是插入損失(I.L. Insertion Loss)，亦即與上述的τ值是相關的參數(shù)，定義為。若為主動組件如放大器等，穿透的信號有放大的效應則為增益(Gain)，此時定義為。</p><p>　　對于向量的行為，則計有插入相位(Insertion Phase)，其表示入射與穿透信號的

12、相位差，我們可以從相位的變化中，推導出另一個很重要的參數(shù)-群速延遲(G.D. Group Delay)，它代表的意義就是不同頻率的波在一段傳輸線中，因介電材料或其它邊界效應(Boundary condition)的影響，使到達時間不同而產(chǎn)生的延遲現(xiàn)象，其中又有分為平均延遲時間(Average Group Delay)與波浪(Ripple)或稱為平坦度(Flatness)的定義，前者表示不同頻率到達的平均時間，并可以從中推算出電氣長度(E

13、lectrical Length)，后者則表示不同頻率間的到達時間差，一般我們會希望平坦度愈小愈好，如此在通訊上不致造成信號失真的問題。</p><p>　　散射參數(shù)(Scattering parameter)</p><p>　　在高頻的量測上，S參數(shù)提供了相當有用的定性量測方法，以便分析雙端口甚至是多端口組件的所有特性，如放大器、濾波器、天線以及纜線等，S參數(shù)與低頻的Z、Y參數(shù)定義相當

14、類似，但不同的是S參數(shù)是采用入射、反射及穿透波能量來描述待測裝置的輸入及輸出端口特性，而不若Z、Y參數(shù)必須找到電壓或電流的開路或短路的解，使得在高頻領域下的應用更為廣泛。圖2則是兩端口組件S參數(shù)的表示方式，其中a表示發(fā)射源，b則為接收器，而a、b的下標則代表從第一埠(Port 1)或第二埠(Port 2)來量測，如a1則表示從第一端口的發(fā)射信號源，b2則表示在第二端口的信號接收器。</p><p>　　以一個雙端

15、口組件而言，會衍生出四個S參數(shù)，若為三埠或多端口以上的組件，就會有N2個相對應參數(shù)，基本上，在微波工程中常用以矩陣來表示。而每一個S參數(shù)，都有其對應的邊界條件，如，即表示第二端口時沒有信號反射時，亦即待測物輸出端有負載阻抗的匹配時，所得到待測物在輸入端的反射系數(shù)。</p><p>　　經(jīng)過以上的定義，我們將反射、穿透及S參數(shù)與相對應的量測參數(shù)整理如圖3。</p><p><b>

16、　　儀器結構示意圖</b></p><p>　　基本上，網(wǎng)絡分析儀的架構可以分成四大部分：一個是信號的發(fā)射源，另一種為用以分離入射、反射及穿透波的信號分離電路，第三是將射頻或微波信號轉換至中頻信號的接收器，最后是負責將偵測信號作運算處理的處理器及顯示屏。</p><p>　　信號源擔任激勵(Stimulus)的角色</p><p>　　信號源在網(wǎng)絡分析儀

17、中是擔任一個激勵(Stimulus)的角色，主要是提供一個掃頻或功率掃描的信號送到待測物上，當信號打到待測物之后，就會反應出穿透或反射的行為，據(jù)此，我們就可以得到某個頻率或功率范圍下的響應，而信號源的頻率范圍、頻率穩(wěn)定度、信號純度以至于功率位準即位準控制能力都會影響量測的結果，一般用于網(wǎng)絡分析儀中大致有兩類，其一是振蕩器(Oscillator)，另一個是合成器(Synthesizer)，前者好處是價格低廉，但頻率穩(wěn)定度及精確度遠不及后者

18、，若我們量測的組件其響應變化優(yōu)于振蕩器時，如量測晶體濾波器的殘存FM(residual FM)頻寬時，就應該采用更穩(wěn)定的合成器信號源。</p><p>　　信號分離電路將入射、反射及穿透信號分離處理</p><p>　　當信號源產(chǎn)生入射的信號行為后，接下來就是要將入射、反射及穿透信號予以分離處理，進而偵測每一分量的振幅及相位特性。擔任信號分離工作的是一些被動組件，主要有單向耦合器(Dire

19、ctional Coupler)、電橋(Bridge)、功率分離器(Power Splitter)等，圖4中即為單向耦合器的示意圖，其中主路徑只有單一方向的功率行進情況下，才會有能量被耦合到耦合路徑上，而被耦合的路徑的信號位準通常較低，而下降位準的總量稱為耦合因子(Coupling Factor)，例如耦合因子為20dB的單向性耦合器，代表入射信號的1%能量會耦合到耦合路徑上，而99%的功率則仍在主路徑上行進。另一個單向耦合器的重要參數(shù)

20、為方向性(Directivity)，其定義為：</p><p>　　Directivity(dB)=Isolation(dB) - Coupling Factor(dB) - Loss(dB)</p><p>　　代表信號在順向及逆向所檢測到的信號差，造成方向性誤差的來源有信號的泄漏(Leakage)或稱為隔絕性(Isolation)、耦合器內部及接頭阻抗不匹配的反射(亦即耦合因子)等。在

21、儀器內部中，方向性應盡可能的好，一般至少要在30dB以上，如此才不致受到信號泄漏的誤差而影響量測。</p><p>　　而功率分離電路的特性是將入射信號分離成兩個路徑，一般而言，兩個分離信號的功率位準比原入射信號低6dB，分離器的主要目的是產(chǎn)生一個具有與信號源完全匹配的量測環(huán)境，一般連接的方式是將其中一個輸出路徑連接到參考接收器(Reference Detector)，而另一個輸出路徑則連接到待測物上，若在待測物

22、的輸出端后接上一個傳輸接收器(Transmission Detector)，就可以從兩個功率比值中得到穿透系數(shù)，綜而言之，功率分離器是一個寬頻且良好頻率響應的組件，并能與信號源及接收器間有良好的匹配。</p><p>　　第三種是電橋，其工作原理類似于惠斯同電橋(Wheatstone Bridge)，其等效于單向性耦合器的方向性定義為最大的平衡值(Maximum Balance，即接上完美的負載)與最小的平衡值(

23、Minimum Balance，即接上開路或短路)所得的比率(dB)，是單向耦合器的替代方案。在量測上，與單向耦合器不同的地方是它可以工作在直流下，因此儀器可以有較大的頻率量測范圍，一般單向耦合器有高通(High Pass)的反應現(xiàn)象，因此在低于40MHz以下就必須用電橋來取代。但電橋也有其缺點，因為它的信號位準從待測物傳回值較小，因此會有較大的損耗，相較于單向耦合器則具有低損耗(Low Loss)的優(yōu)點，電橋則減少了量測的動態(tài)范圍。&

24、lt;/p><p>　　上述的各個組件一般工作在50或75歐姆下的環(huán)境，實際上量測反射系數(shù)時，我們會搭配一對或一個單向性耦合器及一個功率分離器，如圖5下方所示，才能將入射與反射信號分離，而對于穿透系數(shù)量測上，基本上使用一個功率分離器或單向性耦合器就可完成入射與穿透信號的分離動作，在穿透量測上使用單向性耦合器的好處是可以將大部分的能量送到待測物上，而可以得到較佳的動態(tài)范圍，而電橋的接法與單向性耦合器類似，在此不再贅述。

25、</p><p><b>　　接收器</b></p><p>　　接收器的角色，就是將分離電路所得的射頻/微波訊號轉換至中頻或直流位準，以便于后方的數(shù)字處理器作運算的工作。基本上的接收器有兩類，即為二極管(Diode)及調諧型接收器(Tuned Receiver)，其中最簡單也最便宜的技術就是使用寬頻的二極管接收器，二極管有整流的功能，可以將高頻訊號能量轉換成直流的信

26、號，但使用這種接收器的缺點是因頻率響應是寬頻的，因此對于信號源或待測物所產(chǎn)生的諧波(Harmonic)或虛擬(Spurious)效應也會加入量測范圍內，因此其動態(tài)范圍會限制在50~60dB左右，但對于這種寬頻量測行為的好處是它的偵測方式與頻率無關，因此對于頻率轉換的組件、大的直流增益放大器及動態(tài)范圍較小的窄波濾波器上有其應用的范圍，另外需注意的是得到信號僅有純量的信息，所以搭配此類型接收器多半是較廉價的純量式(Scalar)網(wǎng)絡分析儀。

27、</p><p>　　另外一種是屬于窄頻的調諧接收器，其中混波的方式可以有基頻混波(Fundamental Mixing)及諧波混波(Harmonic Mixing)的方式，將偵測到的射頻/微波信號利用中頻濾波器(IF filter)轉換成較低頻的中頻信號，如圖6右方所示，這種方式的好處是對于虛擬訊號(Spurious Signal)可以有過濾的效果，另外，使用窄頻濾波的方式，可以將噪聲位準(Noise Leve

28、l)降低，這原理與頻譜分析儀相當類似，如此一來就可以得到較大的動態(tài)范圍，除此之外，一般搭配調諧接收器的網(wǎng)絡分析儀可以量測與輸入信號間的相位關系，因此向量網(wǎng)絡分析儀內部接收器以此類為主。</p><p><b>　　信號處理及顯示屏</b></p><p>　　分析儀中有許多組接收器，其中一個對應的處理單元會針對參考信道，紀錄輸入信號的絕對功率位準及相位歸零值，而有另一

29、個或以上的處理單元則擔任測試信道紀錄的工作，而從參考與測試信道之間就可以得到信號位準比值及相對應相位差，例如兩信道之間量測電壓比值為20dB，則代表兩信道之間信號位準的比例為10：1，而所有網(wǎng)絡分析儀的S參數(shù)都是采用相對性表示法得到，在相位部分，一般會以參考信道相位為零度去比較出其它測試信道的相位差而得到有關向量的參數(shù)。</p><p>　　因此，當信號經(jīng)過降頻處理及紀錄后，儀器內部就會對所偵測到的信號，根據(jù)運算

30、的數(shù)值作適當?shù)娘@示，包括不同的圖表格式如史密斯圖、極坐標、SWR、相位、群速延遲等，另外如光標顯示、限制線(Limit Line)設定、不同S參數(shù)的顯示及存盤、打印等工作，都是由內部的處理單元來完成，近來更因微軟的窗口操作系統(tǒng)相當便利之故，并有其強大的COM/DCOM功能可以透過局域網(wǎng)絡聯(lián)機(LAN)作外部計算機控制的動作，而在下一世代的儀器中，會漸漸走向窗口平臺操作系統(tǒng)，因此無論在操作上或資料的轉換上都相當?shù)谋憷恍枰倏紤]資料打印

31、時打印機是否支持、以及量測資料格式是否兼容于計算機的問題，使用者可以專注于量測及分析的工作以提高生產(chǎn)效率。</p><p><b>　　校正原理</b></p><p>　　在所有網(wǎng)絡的量測系統(tǒng)中，都會有所謂的誤差來源，他們分別來自于如纜線、治具及環(huán)境所造成的系統(tǒng)誤差(Systematic Error)，我們假設它不隨時間而變(這也代表當纜線或治具改變時，就必須重新作

32、校正)，因此可以用校正模型或數(shù)學運算的方式將其去除，在網(wǎng)絡中，這些誤差計有信號泄漏(Signal Leakage)、信號反射(Signal Reflection)以及頻率響應(Frequency Response)等。另一類誤差為隨機誤差(Random Error)，它是會隨著時間而改變且不可預期的，如儀器的噪聲位準、取樣噪聲等，我們無法對此類誤差作校正的動作，但我們可藉由增加入射訊號功率、降低中頻濾波器頻寬或使用平均方式來盡量減少此類

33、誤差。第三種是當校正后因使用時間增加所產(chǎn)生的飄移誤差(Drift Error)，它主要來自于環(huán)境溫度改變的貢獻，而飄移誤差的大小就決定了何時必須再做一次的校正工作，若我們可以控制環(huán)境溫度為一穩(wěn)定值，例如，則系統(tǒng)就可以維持在一定的精確度范圍內。必須注意的是，以上所述的這些誤差大小會隨著測試系統(tǒng)架設方式而有不同，因此在做每次精確的量測前，我們建議都必須作校正的動作，</p><p>　　單埠誤差來源及解決方案(1-P

34、ort)</p><p>　　這里所提到的單埠，就是表示在所謂反射系數(shù)的量測上，誤差主要來自于三項貢獻，即方向性(Directivity)、信號源不匹配(Source Mismatch)、反射頻率響應(Reflection Tracking)等。若對照到儀器及纜線端的架構上，可以由圖7來表示，第一個誤差項為方向性，前已提到，它主要來自于單向耦合器或電橋的信號泄漏的因素；其次是信號源匹配部分，由于信號源到纜線之間阻

35、抗匹配的問題，會造成信號源與待測物輸入端間多次反射現(xiàn)象，而產(chǎn)生量測誤差；第三是反射頻率響應問題，對于反射系數(shù)而言，它代表參考接收器與待測接收器的比值(亦即圖7中的R與A接收器)，但同樣的信號從兩端信號的路徑中，所得到的值會因為內部纜線長短及兩接收器的頻率響應而有所不同，總稱為頻率響應誤差。對于前述三種誤差來源，我們可以用已知的三個校正工具，利用數(shù)學矩陣仿真運算的方式，將三項誤差去除，在同軸式的接頭上，我們會采用標準的開路(Open)、短

36、路(Short)及50歐姆的負載(Load)作為參考值，將各個頻率下的誤差訂正(Correction)，對于校正完后，應進一步做驗證的動作，以確保在量測時的校正平面(Cali</p><p>　　雙埠誤差來源及解決方案(Full 2-Port)</p><p>　　同樣是在單端口模型下的情形，但多了穿透特性的量測，因此在誤差來源上，比純粹反射系數(shù)多了三項誤差，它們分別是穿透頻率響應(Tra

37、nsmission tracking)、輸出端不匹配(Load Mismatch)以及串音(Crosstalk)。如同前所述反射頻率響應一般，穿透系數(shù)是由圖中兩接收器R、B所定義，當兩接收器反應不一致時，就會造成誤差；其次在信號輸出端與穿透接收器之間的阻抗也必須匹配，否則信號同樣會在輸出端與接收器之間來回振蕩而使信號多了一個不確定性；最后一個是串音的現(xiàn)象，對于切換器或動態(tài)范圍較大的組件，必須考慮到當信號不直接通過待測物但透過空氣傳遞的現(xiàn)

38、象，因此，對于這方面我們就必須比純作反射系數(shù)量測上，多做額外的三項校正。</p><p>　　為了解決上述的誤差來源，我們會采用直接纜線對接的方式，稱之為Through校正，同樣也是經(jīng)由數(shù)學運算，此時可以解決輸出端不匹配及穿透頻率響應的問題。對于串音部分，一般為一選項校正，除非串音對待測組件影響較大，不然可以將此誤差項忽略，實際上若要校正，必須兩埠都接上50歐姆或先接上待測物再串接50歐姆負載做校正才正確。<

39、;/p><p>　　以上為單端口的誤差來源模型，共計有6個誤差項，若對于兩端口組件上，因信號源入射方向及待測物所走的路徑不同，而會有對應到12個誤差來源，對于三埠，則有27個誤差項，若為四埠，則計有48個誤差來源，因此當測量埠愈多時，相對的誤差也會較多，但對于誤差來源的原因，都可以歸納成圖八所提的六大類誤差之中。</p><p>　　校正方式及校正工具介紹</p><p&g

40、t;　　在了解誤差的來源后，接下來，就是對應到儀器如何操作，我們以雙端口網(wǎng)絡分析儀為例，以速度及精準度來分，計有響應(Response)、單埠反射校正(1-Port)、全雙埠校正(Full 2-Port)三種。所謂的響應，就是單做開路、短路、負載或者是穿透(Through)其中一種，其中以穿透較為常見，因做全雙埠校正需要較多的接頭轉換次數(shù)，為了節(jié)省時間或不需要非常精確的量測，只做穿透校正就可以將其中四項誤差更正，例如使用頻譜分析儀(Sp

41、ectrum Analyzer)加上同步信號產(chǎn)生器(Tracking Generator)所得純量穿透系數(shù)所做的歸一化(Normalization)就屬于同樣類型的校正原理。對于單埠的反射系數(shù)量測上，則須做三次接頭轉換，其分別為開路、短路及負載，這類似于高頻的阻抗分析儀，若只純粹量測反射相關參數(shù)如阻抗、反射損失等，就僅做此校正即可。但對于較有彈性的量測上，如濾波器或放大器等需同時量測反射及穿透相關參數(shù)，則需要做全雙埠校正而將10或12項

42、誤差(其中兩項為串音誤差，一般可以忽略掉)做訂正的動作，圖9為不同校正方式與其相對應的校正工具。</p><p>　　另外，相對于不同的接頭型態(tài)、涵蓋頻率及精準度，就會有不同校正工具的選擇，如APC-7、N-Type、3.5mm、2.4mm等等，端視欲量的待測物為何種形式的接頭而定。如圖10左方，為傳統(tǒng)3.5mm的校正工具，而右方則是目前較新式的電子切換式校正工具，使用者只須連接一次而不必再換接頭就可以將所有的誤

43、差來源校正完成，這應該是未來多埠校正工具的趨勢。</p><p><b>　　儀器規(guī)格及特征</b></p><p>　　如同頻譜分析儀一般，網(wǎng)絡分析儀也有相對應的規(guī)格，而規(guī)格的好壞并非絕對，主要須能符合量測應用的領域范圍及未來的需要為優(yōu)先考量因素，另外就是價格方面的問題，某些量測設備，可能會因為添加某些選項而可以做某方面特殊的應用等(如時域反射偵測、Full TRL

44、校正)，而會使整體價格提升，但為了作正確的測量及應用，這方面的投資是必要的。</p><p>　　一般來說，儀器規(guī)格大致可以區(qū)分成系統(tǒng)、信號源、測試端口、掃描項目、校正、選項及支持性等六類，以下我們舉實例來做參考。</p><p><b>　　系統(tǒng)規(guī)格</b></p><p>　　儀器規(guī)格中，有定義所謂的系統(tǒng)動態(tài)范圍(Dynamic Range

45、)，它的計算方式是輸出功率或接收器的最大輸入信號位準與接收器噪聲位準的差值，單位為dB，其值愈大愈好，一般都會在70dB以上，但必須同時考慮到掃描的時間，若儀器動態(tài)范圍夠大，但相對的掃描時間過長，就不適用于產(chǎn)線上實時的量測監(jiān)控，一般來說，單次掃描時間為數(shù)十毫秒到數(shù)秒之間。另外，會標示反射或穿透的不確定性(Uncertainly)，這是代表在做完校正動作之后，儀器因噪聲、接頭重復性及切換器所造成最差情況的誤差貢獻，造成量測的不確定，單位為

46、dB，其值愈小愈好。</p><p><b>　　信號源規(guī)格</b></p><p>　　頻率范圍(Frequency Range)代表信號源所能掃描的頻率范圍，而頻率分辨率(Frequency Resolution)則表示信號源掃頻時的最小頻率間隔，一般為數(shù)kHz至1Hz，在頻率穩(wěn)定度(Stability)及精確度(Accuracy)規(guī)格上，則表示有多少成分的頻率會

47、偏離欲調變的頻率中心，單位為ppm，另外，影響較大的如殘存FM(Residual FM)，又稱為相位噪聲(Phase Noise)，其值越低越好，一般在數(shù)kHz左右。在功率規(guī)格上，較重要的有位準精確度(Level Accuracy)及線性度(Linearity)，前者表示輸出功率有多精準，而后者就是的振幅平坦度，另外，若針對放大器的量測上，也會有相關最小輸出功率的定義(一般會采用內含步階衰減器的選項)。</p><p

48、><b>　　測試端口規(guī)格</b></p><p>　　包括平均噪聲位準(Average Noise Level)及方向性(Directivity)，前者表示接收器所能偵測到的最低功率值，后者主要是來自于單向耦合器的信號泄漏影響，一般在40dB以上，愈大愈好。</p><p><b>　　掃描項目</b></p><p&

49、gt;　　計有線性、對數(shù)掃頻、數(shù)據(jù)列表、連續(xù)波(CW, Continuous Wave，用于偵測穩(wěn)定性)及用于放大器量測的功率掃描(Power Sweep)等，實際上儀器所能提供的掃描方式，端視其定位及配備而定。</p><p><b>　　校正方式</b></p><p>　　一般會內建前所述單埠以及響應校正，以及較精準的全雙埠校正，以及校正工具與待測物的接頭型態(tài)不

50、同所使用的接頭轉換(Adapter Swept)，另外，對于非同軸型態(tài)模型如TRL(Thru-Reflect-Line)或LRM(Line-Reflect-Match)校正的提供等。對于其它較方便的工具如治具仿真(Fixture simulation)參數(shù)；其中又包含嵌入式(Embeded)、或非嵌入式(Dembeded)、對于延長校正平面的纜線延伸(Port Extension)、纜線與待測物阻抗值不同所做的阻抗轉換(Impedanc

51、e Transfer)等，則端視儀器是否有此額外的功能。</p><p><b>　　選項及支持性</b></p><p>　　一般會有支持自動化控制的GP-IB接口、串聯(lián)端口RS232或I/O端口Handler及打印功能的Print Port，另外較實際的量測上會需要直流壓源(Bias)來達成實際組件的仿真，另外，在進階的選項計有時域轉換(Time Domain A