jtag接口

1、JTAG 接口 接口目錄JTAG接口§基本信息§JTAG的一些說明§JTAG接口定義§展開JTAG接口§基本信息§JTAG的一些說明§JTAG接口定義§展開JTAG 接口 接口1 JTAG(Joint Test Action Group；聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標準測試協(xié)議（IEEE1149.1 兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持 J

2、TAG 協(xié)議，如DSP、 FPGA 器件等。 標準的 JTAG 接口是 4 線：TMS、TCK、 TDI、 TDO，分別為模式選擇、 時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出§線。JTAG 最初是用來對芯片進行測試的，JTAG 的基本原理是在器件內(nèi)部定義一個TAP（Test Access Port；測試訪問口）通過專用的 JTAG 測試工具對進行內(nèi)部節(jié)點進行測試。JTAG 測試允許多個器件通過 JTAG 接口串聯(lián)在一起，形成一個 JTAG 鏈

3、， 能實現(xiàn)對各個器件分別測試。 現(xiàn)在，JTAG 接口還常用于實現(xiàn) ISP（In-System Programmable？在線編程§），對 FLASH 等器件進行編程。JTAG 編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進行預編程現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用 JTAG 編程，從而大大加快工程進度 。JTAG 接口可對 PSD 芯片內(nèi)部的所有部件進行編程 。具有 JTAG 口的芯片都有如下 JTA

4、G 引腳§定義：TCK——測試時鐘輸入；TDI——測試數(shù)據(jù)輸入，數(shù)據(jù)通過 TDI 輸入 JTAG 口；TDO——測試數(shù)據(jù)輸出，數(shù)據(jù)通過 TDO 從 JTAG 口輸出；TMS——測試模式選擇，TMS 用來設置 JTAG 口處于某種特定的測試模式?？蛇x引腳 TRST——測試復位，輸入引腳，低電平有效。含有 JTAG 口的芯片種類較多，如 CPU、DSP、CPLD 等。JTAG 內(nèi)部有一個狀態(tài)機§，稱為 TAP 控制器。T

5、AP 控制器的狀態(tài)機通過 TCK 和 TMS進行狀態(tài)的改變，實現(xiàn)數(shù)據(jù)和指令的輸入。圖 1 為 TAP 控制器的狀態(tài)機框圖。2 JTAG 芯片的邊界掃描寄存器§JTAG 標準定義了一個串行的移位寄存器§。 寄存器的每一個單元分配給 IC 芯片的相應引腳，每一個獨立的單元稱為 BSC（Boundary-Scan Cell）邊界掃描§單元。 這個串聯(lián)的 BSC在 IC 內(nèi)部構(gòu)成 JTAG 回路，所有的 BSR（B

6、oundary-Scan Register）邊界掃描寄存器通過JTAG 測試激活，平時這些引腳保持正常的 IC 功能。圖 2 為具有 JTAG 口的 IC 內(nèi)部 BSR 單putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,1,IP);putp(1,0,IP);if(check_id(SA1110ID))error_out(“failed to read device ID for the SA-1110“);put

7、p(1,1,IP); //退出數(shù)據(jù)寄存器§putp(1,1,IP); //更新數(shù)據(jù)寄存器putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle,使 JTAG 復位putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idle}6 電路設計和編程中的注意事項① Flash 芯片的 WE、 CE、 OE 等控制線必須與 SA1110 的 BSR 相連。 只有這樣，才能通過

8、BSR 控制 Flash 的相應引腳。② JTAG 口與 PC 并口的連接線要盡量短，原則上不大于 15cm。③ Flash 在擦寫和編程時所需的工作電流較大，在選用系統(tǒng)的供電芯片時，必須加以考慮。④為提高對 Flash 的編程速度，盡量使 TCK 不低于 6MHz，可編寫燒寫 Flash 程序時實現(xiàn)?；拘畔?基本信息JTAG(Joint Test Action Group)聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標準測試協(xié)議（IEEE1149.

9、1 兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試?，F(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持 JTAG 協(xié)議，如DSP、 FPGA 器件等。 標準的 JTAG 接口是 4 線：TMS、TCK、 TDI、 TDO，分別為模式選擇、 時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。JTAG 最初是用來對芯片進行測試的，基本原理是在器件內(nèi)部定義一個 TAP（TestAccess Port?測試訪問口）通過專用的 JTAG 測試工具對進行內(nèi)部節(jié)點進行測試。JTAG 測試允許多個器件通過 JTAG

10、接口串聯(lián)在一起，形成一個 JTAG 鏈， 能實現(xiàn)對各個器件分別測試?，F(xiàn)在，JTAG 接口還常用于實現(xiàn) ISP（In-System Programmable?在線編程），對 FLASH等器件進行編程。JTAG 編程方式是在線編程，傳統(tǒng)生產(chǎn)流程中先對芯片進行預編程實現(xiàn)再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用 JTAG 編程，從而大大加快工程進度。JTAG 接口可對 PSD 芯片內(nèi)部的所有部件進行編程JTAG 的一些說明

11、的一些說明通常所說的 JTAG 大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于 Debug；一般支持 JTAG 的 CPU 內(nèi)都包含了這兩個模塊。一個含有 JTAG Debug 接口模塊的 CPU，只要時鐘正常，就可以通過 JTAG 接口訪問CPU 的 內(nèi) 部 寄 存 器 § 和 掛 在 CPU 總 線 上 的 設 備 ， 如 FLASH ， RAM ， SOC （ 比 如4510B，44Box，AT91