在線測(cè)試中應(yīng)用JTAG技術(shù)的研究.pdf

1、在線測(cè)試(ICT-In Circuit Test)主要目的是測(cè)試電路板上的元件在生產(chǎn)過程中是否出現(xiàn)一系列影響其性能的問題,如元件空焊、引腳短路、開路及錯(cuò)件等。電路板設(shè)計(jì)中的許多問題同樣也可以通過在線測(cè)試檢查出來,從而降低生產(chǎn)成本。在線測(cè)試主要利用“針床”的技術(shù),這種技術(shù)的測(cè)試原理是待測(cè)電路板上的元件引腳與測(cè)試點(diǎn)相連,測(cè)試點(diǎn)與治具上的測(cè)試探針相連接,測(cè)試探針通過治具上的繞線與測(cè)試機(jī)的界面針進(jìn)行數(shù)據(jù)的傳送和接收,從而來判斷待測(cè)元器件是否測(cè)試

2、通過。芯片的集成度隨著電子行業(yè)的發(fā)展,而變得越來越高,這樣就會(huì)導(dǎo)致芯片引腳間距的變小,但功能卻更強(qiáng),如BGA。這樣對(duì)治具精確放置探針和測(cè)試程序的開發(fā)都帶來極大難度。但是,這些問題是可以被邊界掃描技術(shù)解決的,而邊界掃描測(cè)試怎樣在在線測(cè)試中實(shí)現(xiàn),如何提高測(cè)試覆蓋率,這都對(duì)電路板測(cè)試行業(yè)提出了挑戰(zhàn)。
　　本文介紹了常用的ICT測(cè)試方法和邊界掃描測(cè)試的基本原理,分析了如何通過DFT技術(shù)使邊界掃描測(cè)試能更好的應(yīng)用于在線測(cè)試,并通過具體的案例

3、研究 JTAG技術(shù)在在線測(cè)試上的應(yīng)用。分析了AC boundary scan即1149.6和Cover Extend這兩種測(cè)試方法的基本原理及在在線測(cè)試上的具體應(yīng)用。對(duì)于利用JTAG技術(shù)在ICT上對(duì)CPLD進(jìn)行燒錄,本文也以Xilinx公司的XCR2C256為例,分析了基于Agilent3070平臺(tái)的程序開發(fā)步驟及相關(guān)調(diào)試技巧。在零件輸出端觀察其輸入/輸出數(shù)據(jù)是邊界掃描技術(shù)的突出優(yōu)點(diǎn),而測(cè)試數(shù)據(jù)是與芯片上的核心邏輯沒有關(guān)系的。在該技術(shù)中

4、,元件的輸入輸出引腳的測(cè)試是通過串行矢量來實(shí)現(xiàn)的。開發(fā)串行矢量不需要學(xué)習(xí)元件的內(nèi)核電路,其測(cè)試協(xié)議對(duì)任何元件產(chǎn)生的測(cè)試矢量都相同,所以對(duì)于工程師來說開發(fā)簡(jiǎn)單。對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法,元件的測(cè)試腳不能植針是不能進(jìn)行測(cè)試的,但JTAG技術(shù)可以測(cè)試很多即使沒有測(cè)試點(diǎn)的元件的引腳的開路、短路,極大的提升了測(cè)試覆蓋率。闡述了ICT測(cè)試的基本原理,給出了ICT的開發(fā)步驟,并對(duì)具體案例進(jìn)行了分析,從實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以看出在ICT中導(dǎo)入JTAG技術(shù)確實(shí)是一種對(duì)于