考慮多點(diǎn)隨機(jī)接觸的開關(guān)觸頭接觸溫升試驗(yàn).pdf

1、開關(guān)設(shè)備作為開斷電流和隔離設(shè)備的關(guān)鍵元件，在電力系統(tǒng)中有著廣泛的應(yīng)用，然而開關(guān)設(shè)備觸頭普遍存在發(fā)熱問題，嚴(yán)重影響電網(wǎng)的安全運(yùn)行，弄清開關(guān)觸頭的發(fā)熱機(jī)理，及時發(fā)現(xiàn)開關(guān)觸頭的發(fā)熱缺陷，將發(fā)熱缺陷消除在初始狀態(tài)，保證開關(guān)設(shè)備的安全運(yùn)行。
　　本文首先從理論上分析了開關(guān)觸頭的電接觸溫升機(jī)理，在現(xiàn)有的考慮了接觸界面參數(shù)的溫升計(jì)算方法電接觸模型基礎(chǔ)上，加入了接觸斑點(diǎn)的個數(shù)、半徑、位置隨機(jī)性對電接觸模型的影響，建立了多點(diǎn)隨機(jī)接觸模型，解決了以往

2、電接觸模型由于接觸斑點(diǎn)固定化而導(dǎo)致的計(jì)算精度不夠的問題，同時利用ANSYS的宏文件創(chuàng)建多點(diǎn)隨機(jī)接觸通用模型，用戶可根據(jù)實(shí)際需求利用宏文件輸入接觸體形狀及接觸斑點(diǎn)參數(shù)，快速創(chuàng)建不同類型接觸體的多點(diǎn)隨機(jī)接觸模型，可以根據(jù)實(shí)際情況設(shè)定接觸斑點(diǎn)參數(shù)和接觸界面參數(shù)進(jìn)行仿真試驗(yàn)。使用單個接觸斑點(diǎn)的不同分布對接觸斑點(diǎn)隨機(jī)性進(jìn)行驗(yàn)證，驗(yàn)證了在接觸界面上接觸斑點(diǎn)隨機(jī)性對接觸界面溫度的影響。
　　同時針對低壓線路開關(guān)觸頭發(fā)熱問題，利用多點(diǎn)隨機(jī)模型的進(jìn)

3、行電接觸溫升仿真，并與開關(guān)觸頭電接觸發(fā)熱試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行對比，驗(yàn)證多點(diǎn)隨機(jī)模型的合理性。根據(jù)試驗(yàn)中的接觸電極相關(guān)參數(shù)，利用ANSYS的宏文件創(chuàng)建多點(diǎn)隨機(jī)接觸模型，設(shè)置對應(yīng)的接觸體形狀和導(dǎo)電斑點(diǎn)參數(shù)，進(jìn)行了電熱耦合的接觸分析，得出接觸點(diǎn)的溫升分布，并與試驗(yàn)中接觸電極測得的溫升進(jìn)行對比，發(fā)現(xiàn)兩者溫升差別在2％以內(nèi)，說明多點(diǎn)隨機(jī)接觸模型能夠很好的仿真開關(guān)觸頭電接觸的溫升情況，并且結(jié)果具有較高的準(zhǔn)確性。
　　最后利用多點(diǎn)隨機(jī)接觸模型進(jìn)行實(shí)例仿