γ射線測量過程控制及其測量數(shù)據(jù)處理研究.pdf

1、文中主要研究γ射線測量過程控制及其數(shù)據(jù)處理方面的問題。首先，言簡意賅的敘述γ射線測量的基礎(chǔ)理論和相關(guān)知識(shí)。其次，敘述了統(tǒng)計(jì)學(xué)基礎(chǔ)理論及誤差理論與數(shù)據(jù)處理部分內(nèi)容，同時(shí)把統(tǒng)計(jì)學(xué)在放射性測量中的應(yīng)用做了相應(yīng)的分析。研究中發(fā)現(xiàn)理論在實(shí)際運(yùn)用中的局限，提出了γ射線測量及其測量數(shù)據(jù)處理中存在的問題。最后，針對存在的問題，引入過程控制理論和最新的誤差理論與數(shù)據(jù)處理理論對存在的問題進(jìn)行解決，并列舉大量實(shí)測數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證分析。 介紹了數(shù)據(jù)質(zhì)量定義

2、及其緯度，在此基礎(chǔ)上引入統(tǒng)計(jì)過程控制工具一一控制圖和過程能力指數(shù)。大量γ測量數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)傳統(tǒng)的統(tǒng)計(jì)過程控制工具不能夠滿足實(shí)際的運(yùn)用，結(jié)合加權(quán)標(biāo)準(zhǔn)差方法的基本思想，提出了有偏總體的聯(lián)合均值極差控制圖。根據(jù)過程能力指數(shù)的定義，構(gòu)造出適合放射性Y測量的測量能力指數(shù)。經(jīng)過實(shí)際測量數(shù)據(jù)的檢驗(yàn)，有偏總體的聯(lián)合均值極差控制圖和放射性測量能力指數(shù)能夠很好的對放射性穩(wěn)定核素的測量過程進(jìn)行控制。放射性測量能力指數(shù)更加真實(shí)的衡量了儀器在測量過程中的長期穩(wěn)定性。并

3、理論上推導(dǎo)出適合短壽核素測量過程控制的控制圖。 發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有放射性測量不確定度評價(jià)存在的局限，利用灰色系統(tǒng)理論對樣本分布的不要求和小樣本等特點(diǎn)，由大量實(shí)測數(shù)據(jù)計(jì)算出放射性灰度常數(shù)，通過實(shí)際數(shù)據(jù)的驗(yàn)證，灰度系統(tǒng)理論計(jì)算結(jié)果大樣本情況下優(yōu)于基于泊松分布前提的計(jì)算結(jié)果，小樣本情況下更是優(yōu)于Bessel公式法和泊松分布前提的計(jì)算結(jié)果。 初步回歸計(jì)算出美國ORTEC公司的高純鍺1，能譜儀對測量不確定度評定時(shí)采用的數(shù)學(xué)模型。 本