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文檔簡介
1、該文對PWO晶體Czochralski與改進的Bridgman法生長所遇到的問題和摻Y<'3+>與摻PbF<,2>的PWO晶體做了研究.首先比較了兩種晶體生長方法的不同特點,分析了Czochralski法晶體生長時出現(xiàn)扭曲的原因.界面形狀及其穩(wěn)定性是決定晶體質量的關鍵因素.同時研究了晶體轉動速率和提拉速率對晶體光學性能的影響.文中提出光散射中心是存在于PWO晶體中的一類較為嚴重的宏觀缺陷.根據電子探針微區(qū)成分分析,確定PWO晶體中的光散
2、射中心有三種類型:氣態(tài)包裹物、固態(tài)包裹物和微空洞.絕大多數固態(tài)包裹物的成分為殘留的WO<,3>和因局部的PbO過剩而形成的Pb<,2>WO<,5>顆粒,主要存在于籽晶熔化線附近.而晶體開裂的主要原因是PWO晶體在生長時存在較強的熱應力.通過對晶體嚴格進行C軸方向的定向生長,同時改進晶體生長工藝,可以減小晶體應力并解決晶體的開裂.該文還對改進的Bridgman法生長的Y<'3+>摻雜PWO晶體進行了研究.大尺寸的Y:PWO晶體沿生長方向不
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