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文檔簡介
1、隨著集成電路(Integrated Circuit)工藝水平的不斷發(fā)展以及特征尺寸的不斷減小,目前IC設(shè)計已經(jīng)跨入了超深亞微米的SoC(System on Chip)設(shè)計階段,這對面積、性能、功耗有了更高的要求。隨著眾多產(chǎn)品尤其是手持設(shè)備的不斷更新?lián)Q代,低功耗技術(shù)已經(jīng)成為制約這類產(chǎn)品快速發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)。為了進一步降低芯片中的功耗,在后端設(shè)計流程中使用多位觸發(fā)器(Multi Bit Flip Flop)已經(jīng)成為目前一種降低功耗的有效方法。
2、多位觸發(fā)器相對于單位觸發(fā)器(SingleBit FlipFlop)共用了一對反相器,減小了電容負載的大小,從而降低了芯片的功耗。盡管多位觸發(fā)器的使用能有效地解決功耗問題,但是由于對多位觸發(fā)器支持的EDA工具還不夠完善,目前工業(yè)界對IC后端物理設(shè)計只能在有限的EDA工具中進行手動干預(yù)來完成多位觸發(fā)器的合并(Merge)。
本文針對數(shù)字后端物理綜合工具Innovus的多位觸發(fā)器合并這一新增特性,從六個不同方面構(gòu)造相應(yīng)的單元測試案例
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