數(shù)字集成電路故障模型研究及故障注入平臺設(shè)計.pdf

1、隨著數(shù)字集成芯片的深入應(yīng)用,對于數(shù)字芯片穩(wěn)定性的要求也越來越高,為保證芯片始終處于正常狀態(tài)就需要不斷重復(fù)進行測試以及容錯修復(fù)的過程,而在測試或容錯算法的研究過程中需要有有效的驗證評估方法來支持。故障注入技術(shù)做為一種可靠性的驗證方法一直為研究人員所青睞,被廣泛應(yīng)用于各系統(tǒng)的穩(wěn)定性評估,以及測試容錯算法的有效性驗證中。本文正是針對數(shù)字集成電路中的易發(fā)故障進行研究,并搭建出通用型的數(shù)字集成電路故障注入平臺。
　　本文首先從故障模型入手,

2、對數(shù)字電路中包括固定故障、翻轉(zhuǎn)故障、延遲故障、橋接故障以及間歇故障這幾種易發(fā)故障進行分析,具體闡述了故障產(chǎn)生的物理原因,以及每種故障在激活后表現(xiàn)出的邏輯行為,通過提取故障控制參數(shù),建立出可綜合故障模型。
　　本課題設(shè)計了一個針對數(shù)字集成電路的通用型故障注入平臺DFIT(Digital-IC-basedfaultinjectiontool),以實現(xiàn)自動化注入、精確控制故障行為的目標(biāo)。并對平臺的整體架構(gòu)和需求分析進行了詳細(xì)說明,同時具