高速互連通路串?dāng)_時(shí)延故障的ATPG算法研究.pdf

1、密級(jí)桂林電子科技大學(xué)碩士學(xué)位論文題目高速互連通路串?dāng)_時(shí)延故障的ATPG算法研究（英文）（英文）ResearchonATPGAlgithmofCrosstalkDelayFaultsoftheHighspeedInterconnectCircuits研究生學(xué)號(hào):112081210研究生姓名:張培指導(dǎo)教師姓名、職務(wù)指導(dǎo)教師姓名、職務(wù):尚玉玲副研究員申請(qǐng)學(xué)位門類:工學(xué)碩士學(xué)科、專學(xué)科、專業(yè)名稱:檢測(cè)技術(shù)與自動(dòng)化裝置提交論文日期:2014年10

2、月論文答辯日期:2014年12月摘要摘要當(dāng)今，科學(xué)技術(shù)迅猛發(fā)展，集成電路設(shè)計(jì)工藝不斷提高，高速電路中互連結(jié)構(gòu)的信號(hào)完整性(SignalIntegritySI)問題日趨嚴(yán)重。如今PCB板總線布線越來越密，設(shè)計(jì)芯片的體積越來越小，信號(hào)的工作頻率越來越高，會(huì)產(chǎn)生很多信號(hào)完整性問題，如傳輸線間的串?dāng)_、振鈴、反射、開關(guān)噪聲等。而串?dāng)_是信號(hào)完整性中的一個(gè)重要問題，串?dāng)_可能在受害線上引起尖峰脈沖，也能引起電路時(shí)延的改變。串?dāng)_可能引起系統(tǒng)的不穩(wěn)定，嚴(yán)重

3、時(shí)甚至可能會(huì)引起系統(tǒng)的崩潰。所以，研究串?dāng)_的形成原因及其測(cè)試是非常有必要的。本文基于此背景下，對(duì)串?dāng)_理論進(jìn)行分析，探討了基于容性耦合與感性耦合的串?dāng)_產(chǎn)生機(jī)理。針對(duì)串?dāng)_產(chǎn)生的時(shí)延故障，基于FAN算法，提出了BFAN算法，一種串?dāng)_時(shí)延故障的ATPG算法。基準(zhǔn)電路ISCAS’85進(jìn)行了驗(yàn)證，得到帶時(shí)間參數(shù)的時(shí)延故障測(cè)試矢量，并用C語言編程實(shí)現(xiàn)了整個(gè)驗(yàn)證過程。本文具體的工作如下：基于信號(hào)完整性的基礎(chǔ)理論，分析串?dāng)_的基礎(chǔ)理論和形成機(jī)理，并分別總結(jié)

4、了串?dāng)_的危害及抑制方法。在其基礎(chǔ)上深入研究了FAN算法，結(jié)合串?dāng)_時(shí)延故障的特征，研究提出了一種串?dāng)_時(shí)延故障的測(cè)試矢量生成算法—BFAN算法。研究了BFAN算法的基本思想介紹BFAN算法的11邏輯值和真值表。分析BFAN算法中的蘊(yùn)含和故障的傳播情況，最后研究分析了BFAN算法的基本流程。利用BFAN算法進(jìn)行實(shí)例驗(yàn)證，通過解析電路文件，確定時(shí)序信息，對(duì)故障線和攻擊線進(jìn)行激活等一系列步驟，最終得到最后帶時(shí)間參數(shù)的測(cè)試矢量，通過C語言編程對(duì)電路