時(shí)延測(cè)試故障模擬方法研究.pdf

1、隨著生產(chǎn)工藝的發(fā)展,超大規(guī)模集成電路特征尺寸逐步減小,出現(xiàn)了新型的缺陷類型。這些缺陷共同表現(xiàn)為使被測(cè)電路的時(shí)延發(fā)生變化。因此,它們被稱為時(shí)延缺陷。對(duì)時(shí)延缺陷進(jìn)行有效測(cè)試,一直是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界共同關(guān)注的問題。近些年,時(shí)延缺陷對(duì)電路性能的影響越來越大,時(shí)延測(cè)試已經(jīng)成為生產(chǎn)測(cè)試的核心環(huán)節(jié),已經(jīng)是集成電路測(cè)試領(lǐng)域的熱點(diǎn)問題。評(píng)估測(cè)試質(zhì)量的手段主要是通過故障模擬獲得故障覆蓋率。本文以跳變故障模型為基礎(chǔ)提出了三種模擬方案。
　　 一、提出一

2、種時(shí)序電路跳變故障模擬方法。該方法在原有算法的基礎(chǔ)上,通過并行策略以及故障篩選策略提速。實(shí)驗(yàn)結(jié)果說明,提出的方法比原有方法的速度明顯加快。
　　 二、實(shí)現(xiàn)了一個(gè)以不確定型跳變故障模型為基礎(chǔ)的故障模擬器。針對(duì)時(shí)延模擬時(shí)用系統(tǒng)時(shí)鐘周期量化跳變故障的方法不能描述任意大小時(shí)延的缺陷,實(shí)現(xiàn)了不確定型跳變故障模擬器。不確定的故障大小可以概括描述時(shí)延大小為1個(gè)至正無窮個(gè)系統(tǒng)時(shí)鐘周期的所有故障行為。實(shí)驗(yàn)結(jié)果說明,不確定型故障模擬器表現(xiàn)出了預(yù)期的

3、行為,它可以給出一個(gè)覆蓋率范圍來估算測(cè)試向量對(duì)任意大小時(shí)延故障的檢測(cè)能力。
　　 三、提出一種時(shí)序電路小時(shí)延故障模擬方法。近年來,小時(shí)延缺陷逐漸成為時(shí)延故障測(cè)試領(lǐng)域的熱點(diǎn)對(duì)象。以往的測(cè)試評(píng)估標(biāo)準(zhǔn)——故障覆蓋率,不能完全代表小時(shí)延故障測(cè)試的質(zhì)量。統(tǒng)計(jì)延時(shí)質(zhì)量模型成為評(píng)估小時(shí)延測(cè)試的新標(biāo)準(zhǔn),并已被廣泛接受。統(tǒng)計(jì)時(shí)延模型說明小時(shí)延測(cè)試質(zhì)量與故障的敏化路徑有關(guān)。跳變測(cè)試不能保證每個(gè)故障都是沿著最長(zhǎng)的路徑傳播出去,因此,對(duì)一些小時(shí)延缺陷來