基于DDR3的最壞眼圖技術(shù)研究.pdf

1、近年來(lái)集成電路設(shè)計(jì)和工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步帶動(dòng)了整個(gè)計(jì)算機(jī)、電子和通訊產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展，超級(jí)計(jì)算機(jī)的組成部分刀片式服務(wù)器系統(tǒng)中普遍使用高帶寬DDR存儲(chǔ)器，DDR SDRAM（Double Data Rate SDRAM，雙倍數(shù)據(jù)率同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器）是一種高速CMOS動(dòng)態(tài)隨機(jī)訪問的內(nèi)存，由三星公司在1996年最早提出，至今仍廣泛應(yīng)用。
　　數(shù)據(jù)率是DDR3存儲(chǔ)器的重要指標(biāo)，數(shù)據(jù)率的不同會(huì)影響系統(tǒng)的信號(hào)完整性，如何在相同的布局空間內(nèi)設(shè)

2、計(jì)出更快的數(shù)據(jù)率是業(yè)界研究的熱點(diǎn)。本文對(duì)信號(hào)完整性的仿真技術(shù)做了一定的研究，通過對(duì)前人的工作進(jìn)行改進(jìn)，給出了一種更好的仿真方法，使得仿真結(jié)果更為準(zhǔn)確。
　　本文通過對(duì)業(yè)內(nèi)的三種主流時(shí)域仿真技術(shù):最大峰值失真法(PDA)，雙邊沿法(DER)及多邊沿法(MER)進(jìn)行分析，在雙邊沿法及多邊沿法“求向量”和“解向量”方法的基礎(chǔ)上做出了改進(jìn):在“求向量”上，優(yōu)化后的方法考慮了多情況（如多相位以及內(nèi)外眼皮獨(dú)立求解）提高了精度;在“解向量”上，

3、采用了類似于MER的格子法捕獲最壞碼形，得出了克服最大峰值法只能處理邊沿對(duì)稱系統(tǒng)和雙邊沿法可能無(wú)法得到最壞碼型及無(wú)法處理非線性驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)問題的優(yōu)化時(shí)域仿真法，并給出了確定其階數(shù)的方法。
　　本文的主要工作有:
　　1.對(duì)最大峰值法的不對(duì)稱性問題進(jìn)行系統(tǒng)論述以及仿真驗(yàn)證，例證了雙邊沿法可能不能得到最壞碼形的結(jié)論以及內(nèi)在原因，并簡(jiǎn)單的提出了改進(jìn)方向;
　　2.采用MATLAB和HSPICE的聯(lián)合仿真并繪制出眼圖，對(duì)最大峰值法