2023年全國(guó)碩士研究生考試考研英語(yǔ)一試題真題（含答案詳解+作文范文）_第1頁(yè)
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1、隨著現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)器件的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，F(xiàn)PGA的測(cè)試技術(shù)和測(cè)試方法也受到了越來(lái)越多的重視和研究。FPGA的制造測(cè)試需要確保芯片在任何編程邏輯下都能可靠工作，因此需要設(shè)計(jì)多個(gè)測(cè)試配置和測(cè)試向量來(lái)保證測(cè)試的覆蓋率。為了滿(mǎn)足FPGA的制造測(cè)試對(duì)測(cè)試速度和自動(dòng)化的要求，本文提出了一種改進(jìn)的基于ATE(Automatic Test Equipment)的FPGA測(cè)試系統(tǒng)。ATE可保證對(duì)測(cè)試速度和自動(dòng)化的要求，而使用FLASH存儲(chǔ)陣

2、列來(lái)存儲(chǔ)測(cè)試配置則解決了ATE自帶存儲(chǔ)空間有限且擴(kuò)展成本高的問(wèn)題，降低了測(cè)試成本。
　　 系統(tǒng)使用Xilinx USB下載線下載測(cè)試配置并通過(guò)RS-232C接口控制測(cè)試配置在FLASH存儲(chǔ)陣列中的存放位置，實(shí)現(xiàn)多個(gè)配置文件的存儲(chǔ)。在測(cè)試時(shí)，系統(tǒng)通過(guò)ATE控制測(cè)試配置的讀取和配置待測(cè)器件。論文首先對(duì)系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求進(jìn)行了分析，給出了系統(tǒng)設(shè)計(jì)的工作流程和整體實(shí)現(xiàn)架構(gòu)。然后，論文給出了測(cè)試板和以XC2S200為邏輯控制平臺(tái)的配置板的硬件設(shè)

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