

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、合肥工業(yè)大學(xué)碩士學(xué)位論文CMOS帶隙基準(zhǔn)源的研究與設(shè)計姓名:崔磊申請學(xué)位級別:碩士專業(yè):微電子學(xué)與固體電子學(xué)指導(dǎo)教師:易茂祥20100301ResearchandDesignofCMOSBandgapReferenceSourceABSTRACTCMOSBandgapReference(BGR)sourceiswidelyusedinmanycircuits,suchasADC,DAC,LDOandotheranalogormixedc
2、ircuitsItiSanessentialblockItsperformancedirectlyaffectstheaccuracyandsystemstabilityInthispaper,threedifferenttypesofBGRusedinpipelineADC,DACandLDOareresearchedResearchanddesigntheBGRinADC,includingthecorecircuit,operat
3、ionalamplifier,biascircuitandstartcircuit。Basingonatypicalbrokawstructure,twoopampsareusedtoachievevoltageclampspacesandprovideastablebiasvoltage,F(xiàn)eedbackdesignetoimprovethebaselinebythepowersupplyrejectionratioTheBGRapp
4、liedinDACusesdifferenttypesofresistancetosecondordercompensationThetemperaturecharacteristicsaresignificantlyimprovedTheBGRappliedinLDOusescompensationofbasecurrentandthesubstratevoltagemoduletechnologyFinally,takingfull
5、accountofvariousfactorsonthebasisoflayout,designthelayoutoftheBGRusedinpipelineADC,andthroughlayoutverificationTheBGRappliedinADC,basedonchart018urnCMOSprocess,with18Vsupplytemperaturecoefficient(TC)is85ppm/oC,Powersuppl
6、yrejectionratio(PSRR)is1102dBTheBGRappliedinDAC,withSMIC035umand33Vsupply,TCis27ppm/oC;PSRRis85dBTheBGRappliedinLDO,withHynix05pmprocessand5VsupplyshowsthatTCis37ppm/oC,PSRRis754dBTheperformanceofthreecircuitscansatisfyt
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- CMOS帶隙基準(zhǔn)源研究.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源的設(shè)計.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源的設(shè)計研究.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)源的研究與實現(xiàn).pdf
- 基于CMOS工藝的帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)源研究以及應(yīng)用.pdf
- 高性能CMOS帶隙電壓基準(zhǔn)源的研究與設(shè)計.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)源高階溫度補(bǔ)償?shù)脑O(shè)計與仿真.pdf
- cmos課程設(shè)計報告--低壓cmos帶隙電壓基準(zhǔn)源設(shè)計
- 帶數(shù)字自校正的CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計.pdf
- CMOS Pipeline ADC-帶隙基準(zhǔn)電壓源的設(shè)計.pdf
- 應(yīng)用于saradc的cmos帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計
- 低壓低功耗CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源設(shè)計.pdf
- 電源芯片中CMOS帶隙基準(zhǔn)源與微調(diào)的設(shè)計與實現(xiàn).pdf
- 基于襯底驅(qū)動的CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源的分析與設(shè)計.pdf
- 應(yīng)用于SAR ADC的CMOS帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計.pdf
- CMOS帶隙基準(zhǔn)電壓源的溫度特性分析及設(shè)計.pdf
- 低壓低功耗cmos帶隙基準(zhǔn)電壓源的設(shè)計與仿真
- 集成帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計.pdf
- 帶隙基準(zhǔn)源電路與版圖設(shè)計
評論
0/150
提交評論