隨機指令測試在高性能嵌入式處理器開發(fā)中的應(yīng)用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著VLSI技術(shù)的高速發(fā)展,工藝水平的不斷提高,各種高性能的處理器不斷涌現(xiàn),不僅僅是通用處理器的性能指標按摩爾級數(shù)遞增,在各種應(yīng)用系統(tǒng)中,嵌入式處理器也得到了充分的發(fā)展.在當今信息化革命中,嵌入式處理器的作用已是不可代替,各種通訊設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、交通工具甚至于武器系統(tǒng)中都能見到它的身影.然而,嵌入式處理器的不斷發(fā)展也給它的功能驗證工作帶來了難題.隨著嵌入式處理器的不斷發(fā)展,整個嵌入式處理器驗證工作的難度則隨之不斷加大,幾乎占到了70％~

2、80％的工作量和資源,而且還有上升的趨勢.驗證工作已經(jīng)成為保證高性能嵌入式處理器性能指標的一個瓶頸所在.如何在保證效果的同時,降低驗證工作的難度,減少驗證在整個設(shè)計周期的比率,已經(jīng)成為高性能嵌入式處理器設(shè)計所迫切需要解決的一個問題.為了解決這個問題,引入了隨機指令測試的概念.這樣一來就可以大大減輕驗證工程師在芯片驗證時人為書寫大量測試的負擔,同時又可以減輕了人為因素在驗證過程中的影響,達到更好的測試效果.在嵌入式處理器的驗證過程中,隨機

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