隨機(jī)指令測(cè)試在高性能嵌入式處理器開(kāi)發(fā)中的應(yīng)用.pdf

1、隨著VLSI技術(shù)的高速發(fā)展,工藝水平的不斷提高,各種高性能的處理器不斷涌現(xiàn),不僅僅是通用處理器的性能指標(biāo)按摩爾級(jí)數(shù)遞增,在各種應(yīng)用系統(tǒng)中,嵌入式處理器也得到了充分的發(fā)展.在當(dāng)今信息化革命中,嵌入式處理器的作用已是不可代替,各種通訊設(shè)備、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、交通工具甚至于武器系統(tǒng)中都能見(jiàn)到它的身影.然而,嵌入式處理器的不斷發(fā)展也給它的功能驗(yàn)證工作帶來(lái)了難題.隨著嵌入式處理器的不斷發(fā)展,整個(gè)嵌入式處理器驗(yàn)證工作的難度則隨之不斷加大,幾乎占到了70％~

2、80％的工作量和資源,而且還有上升的趨勢(shì).驗(yàn)證工作已經(jīng)成為保證高性能嵌入式處理器性能指標(biāo)的一個(gè)瓶頸所在.如何在保證效果的同時(shí),降低驗(yàn)證工作的難度,減少驗(yàn)證在整個(gè)設(shè)計(jì)周期的比率,已經(jīng)成為高性能嵌入式處理器設(shè)計(jì)所迫切需要解決的一個(gè)問(wèn)題.為了解決這個(gè)問(wèn)題,引入了隨機(jī)指令測(cè)試的概念.這樣一來(lái)就可以大大減輕驗(yàn)證工程師在芯片驗(yàn)證時(shí)人為書(shū)寫(xiě)大量測(cè)試的負(fù)擔(dān),同時(shí)又可以減輕了人為因素在驗(yàn)證過(guò)程中的影響,達(dá)到更好的測(cè)試效果.在嵌入式處理器的驗(yàn)證過(guò)程中,隨機(jī)