高性能處理器電流測試的研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、處理器芯片廣泛用于各類便攜式儀器儀表和消費電子設備中，其耗電性能的好壞直接影響整機的可靠性和壽命。對于總體系統(tǒng)設計而言，電流測試在設計中的地位已變得越來越重要。本文針對高性能處理器芯片的電流測試技術和電流標準的設定條件開展了深入研究。
　　 論文全面闡述了處理器芯片電流測試的基本原理和各種電流(開路、短路、靜態(tài)、動態(tài))測試的測試方法；深入介紹了自動測試儀器(Pin Scale93K)的硬件環(huán)境、軟件環(huán)境、系統(tǒng)文件以及測試體系。在

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