高性能處理器電流測(cè)試的研究.pdf_第1頁(yè)
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1、處理器芯片廣泛用于各類(lèi)便攜式儀器儀表和消費(fèi)電子設(shè)備中，其耗電性能的好壞直接影響整機(jī)的可靠性和壽命。對(duì)于總體系統(tǒng)設(shè)計(jì)而言，電流測(cè)試在設(shè)計(jì)中的地位已變得越來(lái)越重要。本文針對(duì)高性能處理器芯片的電流測(cè)試技術(shù)和電流標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)定條件開(kāi)展了深入研究。
　　 論文全面闡述了處理器芯片電流測(cè)試的基本原理和各種電流(開(kāi)路、短路、靜態(tài)、動(dòng)態(tài))測(cè)試的測(cè)試方法；深入介紹了自動(dòng)測(cè)試儀器(Pin Scale93K)的硬件環(huán)境、軟件環(huán)境、系統(tǒng)文件以及測(cè)試體系。在

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