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文檔簡介
1、集成電路產(chǎn)業(yè)經(jīng)過半個多世紀(jì)的飛速發(fā)展,其工藝和性價比都得到了極大的提高,越來越得到市場的認可和用戶的青睞。為了保證集成電路的高品質(zhì),集成電路測試技術(shù)顯得極為重要。由于集成電路工藝進步和設(shè)計方法深化,如何保證集成電路測試技術(shù)跟上集成電路發(fā)展速度成為了不可忽視的重大問題。本文主要從模擬集成電路直流測試的角度,深入研究了直流參數(shù)測試系統(tǒng)的實現(xiàn)方法及直流參數(shù)的測試方法。
論文首先從集成電路測試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀入手,詳細分析了研究集成電路
2、測試技術(shù)的重要性。緊接著,本文從模擬IC直流參數(shù)測試儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)入手,對系統(tǒng)中設(shè)計的各個子模塊進行了介紹,并針對系統(tǒng)中涉及到的關(guān)鍵硬件技術(shù)進行了深入的研究。然后結(jié)合實際項目,通過對集成電路測試技術(shù)的消化吸收,提出了一種高精度多通道模擬測試板的實現(xiàn)方法,并從硬件、邏輯和驅(qū)動等方面展開研究,并最終實現(xiàn)了該部分的設(shè)計。對于系統(tǒng)中存在的誤差,本文也進行了分析,并對誤差進行了校準(zhǔn),使得校準(zhǔn)后的測試儀完全滿足設(shè)計要求。最后,利用該測試儀完成了對通用
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