

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領
文檔簡介
1、絕緣體上硅橫向絕緣柵雙極型晶體管(SOI-LIGBT)具有耐壓高、驅動電流能力強、開關速度快和功率損耗低等優(yōu)點,已逐漸在功率集成電路中得到應用。然而,功率集成電路設計缺乏準確可靠的SOI-LIGBT器件模型,影響了功率集成電路的發(fā)展。本文以等離子顯示器(PDP)掃描驅動芯片為應用背景,研究并提出了200V SOI-LIGBT器件的SPICE宏模型。
首先,介紹SOI-LIGBT器件的基本工作原理、器件特性和SOI-LIGB
2、T器件的基本等效電路。接著,以此為基礎,比較不同的建模方法,針對SOI-LIGBT器件的靜態(tài)特性,建立了以BSIM3模型為核心,Gummel-Poon模型和壓控電阻為輔的等效電路宏模型,該壓控電阻模擬了漂移區(qū)中的電導調制效應。結合實際測量數據,使用MBP軟件依次提取了BSIM3參數、Gummel-Poon參數、壓控電阻的參數和溫度參數。最后,針對SOI-LIGBT器件的開關特性,在靜態(tài)特性宏模型的基礎上,加入電容和PMOS管建立了SOI
3、-LIGBT器件開關特性等效電路宏模型,準確描述了關斷尾電流現象,基于SOI-LIGBT器件仿真數據提取了開關特性參數。
本文構建的SPICE宏模型適用于溝道長度為3.5μm,直條溝道寬度為0μm~120μm,工作溫度在-40℃~125℃之間的跑道型SOI-LIGBT器件。通過與實測值的比較,靜態(tài)特性和開關特性的模型仿真誤差均在10%以內,且不存在任何收斂性和連續(xù)性問題。將該模型用于PDP高低壓轉換電路的仿真,驗證了200
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
- 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
- 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 200V SOI-LIGBT器件的SPICE模型研究與應用.pdf
- 200V SOI-LIGBT器件ESD響應特性與行為模型研究.pdf
- 200V功率SOI-LIGBT器件熱載流子退化機理及壽命模型研究.pdf
- 200V SOI-LDMOS器件SPICE動態(tài)模型研究.pdf
- 550V高壓SOi-LIGBT器件ESD響應特性及模型研究.pdf
- 550V厚膜SOI-LIGBT器件可靠性研究.pdf
- 550V厚膜SOI-LIGBT熱載流子退化機理及壽命模型研究.pdf
- 功率SOI-LIGBT器件可靠性機理研究.pdf
- 高壓厚膜SOI-LIGBT器件優(yōu)化設計.pdf
- 單芯片集成IPM中600V SOI-LIGBT器件的優(yōu)化設計.pdf
- 550V U型溝道厚膜SOI-LIGBT器件特性研究與優(yōu)化.pdf
- 200V寬SOA SOI-LDMOS設計及評估.pdf
- 200V SOI工藝高壓ESD保護器件設計.pdf
- 200V功率SOI-PLDMOS器件熱載流子退化機理研究.pdf
- 智能功率模塊用550V厚膜SOI-LIGBT短路特性的研究與優(yōu)化.pdf
- PDP掃描驅動芯片用橫向高壓SOI-LIGBT優(yōu)化設計.pdf
- 功率SOI-LIGBT器件瞬態(tài)電沖擊可靠性研究.pdf
- 基于200V SOI-BCD工藝的LDMOS的設計與優(yōu)化.pdf
- 200V SOI深槽隔離結構的設計和可靠性研究.pdf
- 高壓應力下功率SOI-LIGBT器件性能參數退化研究.pdf
評論
0/150
提交評論