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1、光學(xué)材料的應(yīng)力影響材料的均勻性以及光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。在“近紅外大口徑相移平面干涉儀”項(xiàng)目研制過程中，需要分析大口徑光學(xué)元件如準(zhǔn)直物鏡和標(biāo)準(zhǔn)鏡的殘余應(yīng)力以及吊裝產(chǎn)生的應(yīng)力，以選擇合適的光學(xué)材料和元件裝夾方式，提高干涉儀的測(cè)量精度。
本文運(yùn)用偏振光下涉的原理，采用會(huì)聚光路的正交偏振器實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，檢測(cè)光學(xué)材料的應(yīng)力，根據(jù)應(yīng)力等傾條紋和應(yīng)力等色條紋分析光學(xué)材料的應(yīng)力方向和大小。研究了基于白光干涉色的應(yīng)力定量測(cè)量的方法，建立白光干涉
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