剪切干涉測量光學元件的波前重建方法及其仿真研究.pdf

1、隨著國防與尖端科學技術的發(fā)展，高精密的光學系統(tǒng)得到廣泛應用，使得光學元件的需求量與日俱增，精度要求越來越高。獲得高質量光學表面的關鍵技術在于能否提供可靠的、行之有效的檢測結果指導加工。在傳統(tǒng)加工中，加工和檢測是分別進行的，使得加工效率低，精度不高。因此，研究開發(fā)一種有效的在位檢測技術并進行反饋加工成為解決高精度光學元件急需的關鍵。光學剪切干涉測量法是一種不需要標準參考波面的共光路自比較干涉測量法，具有抗干擾、防震動等特點，是實現(xiàn)在位測量

2、的有效手段。但是剪切干涉的干涉圖不具有直觀性，需要進行復雜圖像處理與波前重建，從而限制了其應用。研究剪切干涉測量光學元件的波前重建方法，具有重要意義和應用價值。
　　首先，干涉圖需要進行圖像處理。通常通過干涉儀所獲得的干涉圖是光強分布，并非干涉圖像的相位分布。分別采用相移法和傅立葉變換空間載波法從強度分布得到相位分布，相位解包方法進行解包，編寫了用于提取相位信息的傅立葉變換空間載波法和四步相移法的程序及其基于相位跳變區(qū)域劃分的相位

3、解包程序，為剪切干涉測量光學元件的系統(tǒng)提供了圖像處理程序。
　　其次，需要重建波前。在對波前重建算法進行研究分析的基礎上，采用Zernike多項式最小二乘擬合波前的擬合算法及其重構方法，編寫了 Zernike多項式波前重建算法程序，并給出了關鍵部分模塊的流程圖及其過程，為剪切干涉測量光學元件的提供了重建波面程序。
　　最后，根據(jù)橫向剪切干涉原理和波像差公式，計算出各種波像差的剪切干涉圖。用Zernike多項式的波前重建算法程