基于邊界掃描技術(shù)的復(fù)雜數(shù)字電路板的可測(cè)試性分析.pdf_第1頁
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1、基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描技術(shù)(BST)作為一種標(biāo)準(zhǔn)化的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，彌補(bǔ)了傳統(tǒng)測(cè)試的缺陷，為復(fù)雜的電路互連提供了測(cè)試手段?，F(xiàn)在大部分的復(fù)雜芯片都支持邊界掃描功能，怎樣利用它們來達(dá)到更好的測(cè)試效果和故障覆蓋率是硬件設(shè)計(jì)人員必須考慮的問題。 本文在對(duì)邊界掃描技術(shù)進(jìn)行系統(tǒng)研究的基礎(chǔ)上，結(jié)合電路板可測(cè)性設(shè)計(jì)理論，以某電路板故障診斷通用平臺(tái)中的中央資源板為研究對(duì)象，對(duì)其進(jìn)行結(jié)構(gòu)上的改進(jìn)，將邊界掃描機(jī)制引入電路設(shè)計(jì)。搭建了

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