基于邊界掃描技術的復雜數(shù)字電路板的可測試性分析.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、基于IEEE 1149.1標準的邊界掃描技術(BST)作為一種標準化的可測性設計方法，彌補了傳統(tǒng)測試的缺陷，為復雜的電路互連提供了測試手段?，F(xiàn)在大部分的復雜芯片都支持邊界掃描功能，怎樣利用它們來達到更好的測試效果和故障覆蓋率是硬件設計人員必須考慮的問題。 本文在對邊界掃描技術進行系統(tǒng)研究的基礎上，結合電路板可測性設計理論，以某電路板故障診斷通用平臺中的中央資源板為研究對象，對其進行結構上的改進，將邊界掃描機制引入電路設計。搭建了

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