基于LASAR的數(shù)字電路可測試性設(shè)計方法研究.pdf

1、近年來，隨著電子電路技術(shù)的飛速發(fā)展，電子設(shè)備功能和結(jié)構(gòu)的日益復(fù)雜，電路測試在電路和系統(tǒng)設(shè)計中的作用越來越重要，測試開銷所占的比例也隨之不斷上升。實踐表明，對一個不具有可測試性的電路進(jìn)行測試是徒勞的。因此，在電路的設(shè)計階段就考慮電路的測試問題，對電路進(jìn)行可測試性設(shè)計是十分必要的。 目前常見的可測試性設(shè)計方法主要有改善設(shè)計法、結(jié)構(gòu)設(shè)計法和邊界掃描測試法等幾種。它們通常需要增加額外的測試電路和控制邏輯，在提高可測試性的同時也增加了電路

2、復(fù)雜性。而隨著故障診斷技術(shù)的發(fā)展，可以利用專業(yè)工具的仿真功能對實際電路進(jìn)行仿真，從而在電路的設(shè)計階段便通過軟件來進(jìn)行可測試性分析。 LASAR（邏輯自動激勵與響應(yīng)）便是這樣一套用于數(shù)字電路測試開發(fā)和邏輯分析的仿真軟件系統(tǒng)。使用LASAR軟件進(jìn)行數(shù)字電路的可測試性設(shè)計可以分為電路建模、編譯激勵、好板仿真和故障仿真幾個步驟。對于一個被測電路，首先要用網(wǎng)表語言對其結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行描述，并在器件模型庫中找到電路元件的對應(yīng)模型，由模型編譯器

3、對這兩部分內(nèi)容進(jìn)行編譯，建立被測電路的仿真模型。然后用激勵描述語言對輸入激勵進(jìn)行描述，并通過激勵編譯器對激勵描述文件進(jìn)行編譯。將編譯過后的激勵施加到無故障的電路模型中進(jìn)行好板仿真，其結(jié)果輸出為結(jié)點響應(yīng)和時序冒險兩部分內(nèi)容。結(jié)點響應(yīng)為被測電路對于輸入激勵的響應(yīng)波形，可以通過波形查看工具PERUSE進(jìn)行觀察分析。時序冒險則列出了電路中可能遇到的各種冒險。對于永久冒險，需要修改輸入激勵或電路結(jié)構(gòu)將其消除。而對于非永久冒險，如果不影響電路的正常

4、運行，可以不予考慮。故障仿真則是對帶有故障的電路模型進(jìn)行的仿真。將需要設(shè)置的電路故障編輯成故障列表文件，經(jīng)編譯之后由故障注入器注入電路模型并施加激勵進(jìn)行仿真。仿真器將故障仿真的結(jié)果與好板響應(yīng)進(jìn)行比較，輸出故障覆蓋率信息和故障字典數(shù)據(jù)庫。分析這些故障診斷信息，可以對被測電路的可測試性作出判斷。最后，LASAR與后處理軟件和目標(biāo)測試儀可以組成故障診斷專家系統(tǒng)。后處理軟件將LASAR仿真的結(jié)果轉(zhuǎn)換成測試儀支持的格式，以對實際電路進(jìn)行測試。