數(shù)字電路板邊界掃描故障診斷與無誤判抗混淆優(yōu)化算法研究.pdf

1、本文提出了電路板邊界掃描故障測(cè)試診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)方法，包括理論研究、系統(tǒng)硬件構(gòu)成、算法實(shí)現(xiàn)、故障診斷流程設(shè)計(jì)、驗(yàn)證及測(cè)試平臺(tái)的建立等。詳細(xì)研究了無誤判抗混淆優(yōu)化算法，并且將此算法應(yīng)用到電路板故障診斷中，在保證無征兆誤判且緊縮的測(cè)試矩陣前提下，可以最大限度的解決了橋接故障與呆滯故障的征兆混淆問題。 本文首先總結(jié)電路板故障診斷技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀，介紹了邊界掃描技術(shù)研究動(dòng)態(tài)；然后從硬件結(jié)構(gòu)到軟件系統(tǒng)，詳細(xì)地介紹了邊界掃描技術(shù)原理以及邊

2、界掃描標(biāo)準(zhǔn)，為研究電路板故障診斷理論，提供了方法上的支撐。并分析和總結(jié)歸納了電路板中常見故障模型，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合邊界掃描測(cè)試技術(shù)在電路板故障診斷中的理論，包括測(cè)試模型的建立，測(cè)試算法，測(cè)試步驟以及診斷方法。討論了邊界掃描測(cè)試中的測(cè)試優(yōu)化問題。通過對(duì)電路板故障診斷中的征兆誤判與征兆混淆的詳細(xì)分析，運(yùn)用無誤判抗混淆診斷優(yōu)化算法的基本思想到電路板的故障診斷中，無誤判抗混淆算法生成的測(cè)試矩陣能夠確保無征兆誤判和無征兆混淆，同時(shí)該算法還能將大的

3、測(cè)試矩陣壓縮成小規(guī)模的測(cè)試矩陣。在其生成的測(cè)試矩陣中各并行測(cè)試向量互不相同，但都具有相同的權(quán)值，權(quán)值可以由故障診斷系統(tǒng)的設(shè)計(jì)者預(yù)先設(shè)定，當(dāng)這些并行測(cè)試向量從計(jì)算機(jī)中依次加載到被測(cè)電路板后，可以獲取相應(yīng)的響應(yīng)向量，供診斷系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試響應(yīng)分析，從而檢測(cè)出呆滯故障和橋接故障。實(shí)驗(yàn)表明，無誤判抗混淆算法生成的測(cè)試矩陣具有較高的故障覆蓋率。 本文最后設(shè)計(jì)了一個(gè)以計(jì)算機(jī)為平臺(tái)，通過并行下載電纜ByteBlaster實(shí)現(xiàn)PC機(jī)并口與電路板TA